| 摘要 | 第12-15页 |
| Abstract | 第15-17页 |
| 第一章 绪论 | 第18-34页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第18-19页 |
| 1.2 文献综述 | 第19-30页 |
| 1.2.1 CEME相关研究综述 | 第19-26页 |
| 1.2.2 BIT诊断理论及其增强技术研究综述 | 第26-29页 |
| 1.2.3 CEME中BIT诊断能力增强技术研究综述 | 第29-30页 |
| 1.3 论文的主要内容和组织结构 | 第30-34页 |
| 1.3.1 论文主要研究问题及思路 | 第30-32页 |
| 1.3.2 论文研究内容和组织结构 | 第32-34页 |
| 第二章 CEME特性及其对BIT的影响机理分析 | 第34-58页 |
| 2.1 CEME特性分析 | 第34-42页 |
| 2.1.1 CEME定义 | 第34-35页 |
| 2.1.2 CEME作用原理分析 | 第35-37页 |
| 2.1.3 CEME作用影响分析 | 第37-39页 |
| 2.1.4 CEME影响度定义及评估方法 | 第39-42页 |
| 2.2 电磁应力的作用理论基础和仿真模型分析 | 第42-48页 |
| 2.2.1 电磁应力的作用理论基础 | 第43-45页 |
| 2.2.2 电磁应力场仿真模型分析 | 第45-48页 |
| 2.3 电磁应力对BIT诊断结果的影响分析 | 第48-56页 |
| 2.3.1 BIT测试诊断模型分析 | 第48-52页 |
| 2.3.2 BIT间歇报警机理研究 | 第52-54页 |
| 2.3.3 基于CEME作用影响的电磁应力分类研究 | 第54-55页 |
| 2.3.4 电磁应力与BIT诊断结果的关联关系研究 | 第55-56页 |
| 2.4 总结 | 第56-58页 |
| 第三章 干扰型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究 | 第58-78页 |
| 3.1 干扰型电磁应力对电子装备及其BIT系统的影响分析 | 第58-62页 |
| 3.1.1 干扰型电磁应力对电子装备的作用影响分析 | 第59-60页 |
| 3.1.2 干扰型电磁应力对BIT测试信号的影响分析 | 第60页 |
| 3.1.3 干扰型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析 | 第60-62页 |
| 3.1.4 干扰型电磁应力作用下BIT诊断能力增强途径分析 | 第62页 |
| 3.2 基于CWT-SVM的BIT抗干扰诊断增强技术 | 第62-72页 |
| 3.2.1 总体思路 | 第63-64页 |
| 3.2.2 电磁环境应力的表征参量分析 | 第64页 |
| 3.2.3 基于CWT的BIT测试信号滤波方法 | 第64-67页 |
| 3.2.4 基于SVM的BIT非线性综合决策方法 | 第67-72页 |
| 3.3 验证案例 | 第72-76页 |
| 3.3.1 电连接器故障测试实验 | 第72-73页 |
| 3.3.2 实验数据处理 | 第73-76页 |
| 3.4 总结 | 第76-78页 |
| 第四章 扰乱型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究 | 第78-104页 |
| 4.1 扰乱型电磁应力的作用模型及其对BIT系统的影响分析 | 第78-86页 |
| 4.1.1 扰乱型电磁应力的共性分析 | 第78-80页 |
| 4.1.2 ESD应力的作用模型 | 第80-83页 |
| 4.1.3 扰乱型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析 | 第83-86页 |
| 4.2 基于虚警识别的BIT诊断能力增强技术 | 第86-92页 |
| 4.2.1 基于虚警识别的BIT诊断能力增强技术总体方案 | 第87页 |
| 4.2.2 基于故障特征贡献度的特征提取方法 | 第87-89页 |
| 4.2.3 基于多值网络AIS的BIT虚警识别方法 | 第89-92页 |
| 4.3 基于ESD作用实验的验证案例 | 第92-102页 |
| 4.3.1 ESD作用实验 | 第92-97页 |
| 4.3.2 实验数据处理 | 第97-102页 |
| 4.4 总结 | 第102-104页 |
| 第五章 损伤型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究 | 第104-115页 |
| 5.1 损伤型电磁应力的影响因素及其对BIT系统的影响分析 | 第104-107页 |
| 5.1.1 电磁损伤的影响因素分析 | 第104-106页 |
| 5.1.2 电磁损伤的失效机理分析 | 第106-107页 |
| 5.1.3 损伤型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析 | 第107页 |
| 5.2 基于电磁损伤评估的BIT诊断能力增强技术 | 第107-112页 |
| 5.2.1 电磁应力对损伤的影响分析 | 第108页 |
| 5.2.2 电磁损伤评估模型及方法 | 第108-109页 |
| 5.2.3 基于数据变异AIS的诊断方法 | 第109-112页 |
| 5.3 验证案例 | 第112-114页 |
| 5.3.1 基于ESD应力的电磁损伤仿真实验 | 第112页 |
| 5.3.2 实验数据处理与分析 | 第112-114页 |
| 5.4 总结 | 第114-115页 |
| 第六章 结论与展望 | 第115-118页 |
| 6.1 研究结论 | 第115-116页 |
| 6.2 研究展望 | 第116-118页 |
| 致谢 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-129页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第129页 |
