致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第9-22页 |
1.1 课题研究背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 智能检测装备容错技术研究现状 | 第10-19页 |
1.2.1 智能检测装备发展现状 | 第10-13页 |
1.2.2 CAN总线简介 | 第13-14页 |
1.2.3 容错技术简介 | 第14-19页 |
1.3 存在问题分析 | 第19-20页 |
1.4 本论文主要的工作、解决方案及论文结构 | 第20-22页 |
1.4.1 研究思路 | 第20页 |
1.4.2 论文结构 | 第20-22页 |
2 智能检测装备CDE通讯构架和协议的设计 | 第22-35页 |
2.1 智能检测装备CDE通讯架构模型 | 第22-23页 |
2.2 CDE协议通讯模型 | 第23-24页 |
2.3 CDE装备模型 | 第24-25页 |
2.4 CDE协议报文结构 | 第25-31页 |
2.4.1 数据帧格式 | 第25-29页 |
2.4.2 命令帧格式 | 第29-31页 |
2.5 CDE协议通讯模式 | 第31-32页 |
2.6 CDE通讯内容与流程设计 | 第32-33页 |
2.7 CDE通讯约束 | 第33-34页 |
2.8 本章小结 | 第34-35页 |
3 CAN总线通讯系统容错分析与设计 | 第35-62页 |
3.1 系统软件常见问题分析 | 第35-36页 |
3.2 CDE通讯协议容错分析与设计 | 第36-39页 |
3.2.1 CDE通讯故障分析 | 第36-37页 |
3.2.2 基于信息冗余技术的CDE通讯协议容错设计 | 第37-39页 |
3.3 上位机软件容错分析与设计 | 第39-54页 |
3.3.1 上位机软件功能故障分析 | 第40-50页 |
3.3.2 上位机软件容错设计 | 第50-54页 |
3.4 下位机软件容错分析与设计 | 第54-61页 |
3.4.1 下位机软件运行流程分析与设计 | 第55-58页 |
3.4.2 单片机软件容错技术应用 | 第58-61页 |
3.5 本章小结 | 第61-62页 |
4 容错系统的测试实验 | 第62-73页 |
4.1 故障注入思想 | 第62-63页 |
4.2 故障注入方案设计 | 第63-65页 |
4.3 实验结果与分析 | 第65-72页 |
4.3.1 无容错功能的系统软件性能测试 | 第65-68页 |
4.3.2 具有容错功能的系统软件性能测试 | 第68-71页 |
4.3.3 容错系统的应用 | 第71-72页 |
4.4 本章小结 | 第72-73页 |
5 总结和展望 | 第73-75页 |
5.1 本文结论 | 第73-74页 |
5.2 作展望 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-77页 |