| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-24页 |
| 1.1 课题提出背景与研究意义 | 第11页 |
| 1.2 超声相控阵仪器检测技术基本原理 | 第11-13页 |
| 1.3 仪器可靠性相关概念 | 第13-15页 |
| 1.3.1 仪器可靠性特征量 | 第13-14页 |
| 1.3.2 仪器可靠性寿命分布 | 第14-15页 |
| 1.4 论文相关研究内容的国内外研究进展 | 第15-23页 |
| 1.4.1 仪器可靠性建模 | 第16-20页 |
| 1.4.2 仪器可靠性预计 | 第20-23页 |
| 1.5 论文主要研究内容与章节安排 | 第23-24页 |
| 第二章 相控阵仪器主机结构与可靠性建模研究 | 第24-34页 |
| 2.1 引言 | 第24页 |
| 2.2 小型256超声相控阵仪器主机基本结构分析 | 第24-27页 |
| 2.3 超声相控阵仪器主机可靠性建模 | 第27-30页 |
| 2.3.1 相控阵仪器主机的Markov过程原理 | 第27页 |
| 2.3.2 基于Markov模型相控阵仪器主机可靠性建模与分析 | 第27-30页 |
| 2.4 相控阵仪器主机Markov模型仿真计算 | 第30-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 相控阵仪器主机可靠性分配与仿真计算研究 | 第34-47页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 相控阵仪器主机可靠性指标分析 | 第34-35页 |
| 3.3 超声相控阵仪器主机可靠性分配方法 | 第35-42页 |
| 3.3.1 三角模糊数及其乘法运算规则 | 第35-37页 |
| 3.3.2 基于模糊层次分析的相控阵仪器主机可靠性分配方法 | 第37-42页 |
| 3.4 相控阵仪器主机可靠性计算与仿真 | 第42-46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 相控阵仪器主机可靠性预估与故障模式影响分析研究 | 第47-59页 |
| 4.1 引言 | 第47页 |
| 4.2 超声相控阵仪器主机可靠性预估 | 第47-55页 |
| 4.2.1 相控阵仪器主机元器件选型 | 第47-48页 |
| 4.2.2 相控阵仪器主机可靠性预估 | 第48-55页 |
| 4.3 相控阵仪器主机故障模式影响及危害性分析 | 第55-58页 |
| 4.3.1 相控阵仪器主机故障模式影响分析 | 第56-57页 |
| 4.3.2 相控阵仪器主机危害性分析 | 第57-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 相控阵仪器主机可靠性试验研究 | 第59-68页 |
| 5.1 引言 | 第59页 |
| 5.2 可靠性试验方法选择 | 第59-61页 |
| 5.3 相控阵仪器主机可靠性鉴定试验方案设计 | 第61-66页 |
| 5.3.1 试验方案确定 | 第61-62页 |
| 5.3.2 试验样本选取 | 第62-63页 |
| 5.3.3 试验应力加载 | 第63页 |
| 5.3.4 试验设备选择 | 第63-64页 |
| 5.3.5 失效分类和判据 | 第64-65页 |
| 5.3.6 试验流程制定 | 第65-66页 |
| 5.4 相控阵仪器主机可靠性试验结果与分析 | 第66-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 附件 | 第76页 |
