基于Zernike矩的真空开关分闸速度检测研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 真空电弧的实验研究 | 第9-11页 |
1.1.1 基于高压脉冲的“触发”起弧 | 第10页 |
1.1.2 触头分闸“拉弧” | 第10-11页 |
1.2 操动机构运动参数对真空电弧特性的影响 | 第11-13页 |
1.3 分闸速度检测方法 | 第13-14页 |
1.4 本课题研究内容和目的 | 第14-16页 |
第二章 触头分闸电弧图像的采集 | 第16-27页 |
2.1 工频电流开断实验原理 | 第16-19页 |
2.1.1 分闸电弧实验主回路 | 第16-18页 |
2.1.2 永磁操动机构的合成控制回路 | 第18-19页 |
2.2 触头分闸电弧图像采集 | 第19-21页 |
2.2.1 CMOS图像传感器 | 第19-20页 |
2.2.2 触头分闸电弧图像采集过程 | 第20-21页 |
2.3 真空电弧形态演变过程分析 | 第21-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 触头分闸电弧图像处理 | 第27-40页 |
3.1 触头图像预处理 | 第27-34页 |
3.1.1 触头图像特点及其灰度化 | 第27-29页 |
3.1.2 触头图像噪声分析和滤除 | 第29-30页 |
3.1.3 触头图像增强 | 第30-34页 |
3.2 触头图像分割 | 第34-39页 |
3.2.1 边缘检测 | 第34-37页 |
3.2.2 阈值分割 | 第37-38页 |
3.2.3 数学形态学分割 | 第38-39页 |
3.3 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 基于Zernike矩的亚像素级速度检测 | 第40-52页 |
4.1 分闸速度检测基本原理 | 第40页 |
4.2 Zernike矩的亚像素边缘检测 | 第40-44页 |
4.2.1 Zernike矩边缘参数的确定 | 第41-42页 |
4.2.2 Zernike矩模板的确定 | 第42-44页 |
4.3 检测过程与结果分析 | 第44-51页 |
4.3.1 真空电弧边缘检测过程 | 第44-47页 |
4.3.2 分闸速度检测结果分析 | 第47-51页 |
4.4 本章小结 | 第51-52页 |
结论 | 第52-54页 |
参考文献 | 第54-57页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第57-58页 |
致谢 | 第58页 |