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基于TMR-CUDA容错架构的星载GPU抗SEU技术研究

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第10-17页
    1.1 课题背景与意义第10-14页
        1.1.1 课题背景第10-11页
        1.1.2 星载GPU的可行性分析第11-13页
        1.1.3 课题研究意义第13-14页
    1.2 国内外研究现状第14-16页
        1.2.1 SEU效应发展第14-15页
        1.2.2 GPU容错技术研究现状第15-16页
    1.3 课题主要工作第16页
    1.4 论文的结构安排第16-17页
第二章 SEU效应和容错技术基本理论第17-29页
    2.1 SEU介绍第17-21页
        2.1.1 SEU产生机制第18-19页
        2.1.2 SEU效应对星载处理器的影响第19-21页
    2.2 容错技术介绍第21-28页
        2.2.1 容软错误的基本原理第22-23页
        2.2.2 硬件容错技术第23-25页
        2.2.3 软件容错技术第25-28页
            2.2.3.1 进程级容错第25-26页
            2.2.3.2 线程级容错第26-27页
            2.2.3.3 指令级容错第27-28页
            2.2.3.4 源代码级容错第28页
    2.3 本章小结第28-29页
第三章 GPGPU体系结构与CUDA编程模型第29-41页
    3.1 统一架构的GPU体系结构第29-31页
    3.2 CUDA编程模型与GPU结构映射第31-37页
        3.2.1 软件体系第31-32页
        3.2.2 CUDA编程模型第32-33页
        3.2.3 CUDA存储模型第33-35页
        3.2.4 GPU结构映射模型第35-37页
    3.3 GPGPU-SIM模拟器与线程执行模式第37-40页
    3.4 本章小结第40-41页
第四章 星载GPU抗SEU技术研究第41-57页
    4.1 基于TMR-CUDA的GPGPU容错技术分析第41-56页
        4.1.1 基于时间冗余的KERNEL级容错方案第43-45页
        4.1.2 基于多GPU的KERNEL级容错方案第45-46页
        4.1.3 基于VLIW调度器的指令级并行容错方案第46-48页
        4.1.4 基于计算资源的BLOCK级容错方案第48-49页
        4.1.5 基于线程束WARP级容错方案第49-56页
    4.2 比较与投票算法设计第56页
    4.3 本章小结第56-57页
第五章 星载GPU容错性能和可靠性分析第57-72页
    5.1 实验平台设计第57-58页
        5.1.1 实验环境与平台参数设置第57-58页
        5.1.2 基准程序测试第58页
    5.2 实验性能分析第58-63页
    5.3 可靠性评估方法研究与结果分析第63-70页
        5.3.1 软件容错方案的可靠性评估模型第65-66页
        5.3.2 故障注入与结果分析第66-70页
    5.4 本章小结第70-72页
第六章 总结与展望第72-74页
    6.1 全文总结第72页
    6.2 后续工作展望第72-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-78页

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