安全数码卡开卡过程的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| ·选题背景 | 第9页 |
| ·研究现状及意义 | 第9-11页 |
| ·课题来源 | 第11页 |
| ·本文研究内容 | 第11-12页 |
| ·本论文章节介绍 | 第12-13页 |
| 第2章 相关背景知识介绍 | 第13-32页 |
| ·SD 卡介绍 | 第13-20页 |
| ·SD 卡概述 | 第13页 |
| ·SD 卡接口及结构 | 第13-14页 |
| ·SD 卡生命周期及工作原理 | 第14-15页 |
| ·SD 命令及响应格式 | 第15-16页 |
| ·SD 状态转换图 | 第16-19页 |
| ·SD 读写操作流程 | 第19-20页 |
| ·Flash 存储器介绍 | 第20-25页 |
| ·Flash 存储器概述 | 第20-21页 |
| ·Nand Flash 接口 | 第21-23页 |
| ·Nand Flash 内部结构 | 第23-24页 |
| ·Nand Flash 操作流程 | 第24-25页 |
| ·文件系统介绍 | 第25-27页 |
| ·文件系统功能 | 第25-26页 |
| ·FAT 文件系统 | 第26-27页 |
| ·Flash 控制器ZD5820 介绍 | 第27-31页 |
| ·ZD5820 硬件架构 | 第27-28页 |
| ·ZD5820 存储空间分布 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 Flash 结构检测算法设计与实现 | 第32-42页 |
| ·存储单元数目检测 | 第32-34页 |
| ·检测存储单元数目算法设计 | 第32-33页 |
| ·算法实现 | 第33-34页 |
| ·页大小检测 | 第34-36页 |
| ·检测页大小算法设计 | 第34-35页 |
| ·算法实现 | 第35-36页 |
| ·块大小检测 | 第36-38页 |
| ·检测块大小算法设计 | 第36-37页 |
| ·算法实现 | 第37-38页 |
| ·Zone 数目检测 | 第38-41页 |
| ·检测Zone 数目算法设计 | 第38-39页 |
| ·算法实现 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 Flash 坏块检测和管理算法设计与实现 | 第42-56页 |
| ·检测Flash 出厂时的无效块 | 第42-44页 |
| ·检测算法设计 | 第42-43页 |
| ·耗时分析 | 第43-44页 |
| ·对回收Flash 的坏块检测 | 第44-50页 |
| ·检测算法设计 | 第44-47页 |
| ·算法耗时分析 | 第47-48页 |
| ·算法改进 | 第48-50页 |
| ·坏块管理方案设计 | 第50-54页 |
| ·设计并存储坏块表 | 第50-53页 |
| ·换Zone 导入坏块表 | 第53-54页 |
| ·动态更新坏块表 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第5章 更新驱动程序并载入文件系统的方案设计 | 第56-67页 |
| ·成品SD 卡开卡 | 第56-65页 |
| ·开卡方案设计 | 第56-59页 |
| ·CMD56 通信协议 | 第59-61页 |
| ·系统初始化参数 | 第61-63页 |
| ·烧入驱动并格式化SD 卡 | 第63-65页 |
| ·回收Flash 开卡 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 第6章 系统测试 | 第67-75页 |
| ·测试环境和工具 | 第67-69页 |
| ·测试结果及分析 | 第69-73页 |
| ·功能测试 | 第69-70页 |
| ·兼容性和可靠性测试 | 第70-72页 |
| ·速度性能测试 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
