摘要 | 第9-10页 |
ABSTRACT | 第10-11页 |
第1章 引言 | 第12-29页 |
1.1 (n,γ)反应 | 第13-20页 |
1.1.1 (n,γ)截面概述 | 第13-15页 |
1.1.2 (n,γ)截面测量的意义 | 第15-16页 |
1.1.3 (n,γ)截面的测量方法 | 第16-19页 |
1.1.4 中子源 | 第19-20页 |
1.2 CSNS白光中子源 | 第20-23页 |
1.3 CSNS-WNS BaF_2谱仪 | 第23-25页 |
1.4 本论文的研究内容、结构安排及意义 | 第25-26页 |
1.5 小结 | 第26页 |
参考文献 | 第26-29页 |
第2章 物理实验及中子谱仪中的信号读出 | 第29-54页 |
2.1 信号读出的原理 | 第30-31页 |
2.2 信号读出系统的架构 | 第31-34页 |
2.2.1 前端数字化 | 第31-32页 |
2.2.2 后端数字化 | 第32-33页 |
2.2.3 数字信号集中传输 | 第33页 |
2.2.4 数字信号分布传输 | 第33-34页 |
2.3 国内外BaF_2谱仪信号读出现状研究 | 第34-49页 |
2.3.1 德国BFD谱仪 | 第35-38页 |
2.3.2 美国DANCE谱仪 | 第38-42页 |
2.3.3 CERN TAC谱仪 | 第42-45页 |
2.3.4 中国GTAF谱仪 | 第45-47页 |
2.3.5 小结 | 第47-49页 |
2.4 CSNS-WNS BaF_2谱仪信号读出考虑 | 第49-50页 |
2.5 小结 | 第50页 |
参考文献 | 第50-54页 |
第3章 CSNS-WNS BaF_2谱仪信号读出方法 | 第54-83页 |
3.1 BaF_2谱仪的测量需求 | 第55-57页 |
3.2 BaF_2谱仪信号读出性能参数分析 | 第57-70页 |
3.2.1 前置放大器参数分析 | 第57-58页 |
3.2.2 波形数字化技术参数分析 | 第58-66页 |
3.2.3 时钟同步性能分析 | 第66-69页 |
3.2.4 数据读出性能分析 | 第69-70页 |
3.3 BaF_2谱仪信号读出的技术路线 | 第70-71页 |
3.4 BaF_2谱仪信号读出方法及系统构成 | 第71-75页 |
3.4.1 系统架构 | 第71-72页 |
3.4.2 模拟调理电路 | 第72-73页 |
3.4.3 触发系统 | 第73-74页 |
3.4.4 时钟系统 | 第74-75页 |
3.5 基于PXIe平台的系统实现方法 | 第75-81页 |
3.5.1 PXIe技术简介 | 第75-79页 |
3.5.2 基于PXIe技术的系统架构 | 第79-80页 |
3.5.3 系统组成分析 | 第80-81页 |
3.6 小结 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-83页 |
第4章 BaF_2谱仪模拟信号调理研究 | 第83-94页 |
4.1 探测器信号特点 | 第84页 |
4.2 信号调理系统结构 | 第84-86页 |
4.3 前置放大器 | 第86-88页 |
4.3.1 性能需求分析 | 第86页 |
4.3.2 单端转差分模拟放大 | 第86-87页 |
4.3.3 前置放大结构 | 第87-88页 |
4.4 信号传输 | 第88-89页 |
4.4.1 电缆性能需求分析 | 第88页 |
4.4.2 电缆选型 | 第88-89页 |
4.4.3 匹配方式 | 第89页 |
4.5 模拟扇出模块 | 第89-92页 |
4.5.1 性能需求分析 | 第89-90页 |
4.5.2 全差分模拟信号扇出 | 第90-91页 |
4.5.3 模拟扇出模块的结构 | 第91-92页 |
4.6 小结 | 第92页 |
参考文献 | 第92-94页 |
第5章 BaF_2谱仪数字化信号读出节点研究 | 第94-119页 |
5.1 读出节点结构 | 第95-97页 |
5.2 波形数字化模块 | 第97-112页 |
5.2.1 FDM的需求分析 | 第97-98页 |
5.2.2 信号输入 | 第98-101页 |
5.2.3 模数转换 | 第101-103页 |
5.2.4 FPGA逻辑 | 第103-111页 |
5.2.5 电源设计 | 第111-112页 |
5.3 高精度触发、时钟信号分发 | 第112-117页 |
5.3.1 触发、时钟系统架构 | 第112-114页 |
5.3.2 主触发时钟模块 | 第114-115页 |
5.3.3 本地触发时钟模块 | 第115-116页 |
5.3.4 子触发模块 | 第116-117页 |
5.4 小结 | 第117-118页 |
参考文献 | 第118-119页 |
第6章 测试与验证 | 第119-148页 |
6.1 测试内容及方法 | 第120-123页 |
6.2 评估软件的设计 | 第123-128页 |
6.2.1 软件设计需求及任务分析 | 第123-124页 |
6.2.2 评估软件框架 | 第124页 |
6.2.3 PCIe设备驱动程序 | 第124-125页 |
6.2.4 DACCS的设计与实现 | 第125-126页 |
6.2.5 DAEBS的设计与实现 | 第126-127页 |
6.2.6 GUI软件的设计实现 | 第127-128页 |
6.3 关键性能测试验证 | 第128-146页 |
6.3.1 前置放大器性能测试 | 第128-132页 |
6.3.2 波形数字化性能测试 | 第132-139页 |
6.3.3 时钟网络性能测试 | 第139-141页 |
6.3.4 后端数据传输性能测试 | 第141-143页 |
6.3.5 宇宙线测试 | 第143-146页 |
6.4 测试结果总结及讨论 | 第146-147页 |
6.5 小结 | 第147页 |
参考文献 | 第147-148页 |
第7章 总结与展望 | 第148-151页 |
7.1 总结 | 第149页 |
7.2 工作特色与创新点 | 第149-150页 |
7.3 展望 | 第150-151页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第151-152页 |
致谢 | 第152-153页 |
附件 | 第153-155页 |