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半导体照明光源的加速寿命试验与寿命评估

摘要第3-4页
Abstract第4页
第1章 绪论第7-14页
    1.1 研究背景及意义第7-8页
    1.2 LED可靠性试验研究现状第8-12页
        1.2.1 加速寿命试验第8-9页
        1.2.2 加速退化试验第9-10页
        1.2.3 蚁群算法与BP神经网络第10-12页
    1.3 本文研究内容和技术路线第12-14页
第2章 LED光源恒定双应力加速退化试验第14-24页
    2.1 加速试验应力选择第14-17页
        2.1.1 加载类型选择第14-16页
        2.1.2 试验应力大小及范围第16-17页
    2.2 试验样本的选择与分析第17-19页
        2.2.1 LED的失效机理及失效判据第18页
        2.2.2 样本测试参数第18-19页
    2.3 加速寿命试验过程第19-23页
        2.3.1 试验系统设计第19-20页
        2.3.2 测试过程第20-21页
        2.3.3 数据记录第21-23页
    2.4 本章小结第23-24页
第3章 基于加速性能退化的LED光源寿命预测方法第24-39页
    3.1 LED光源参数性能退化的理论与方法第24-27页
        3.1.1 LED光源可靠性评估流程第24-26页
        3.1.2 性能退化轨迹的模型方法第26-27页
    3.2 分布参数估计第27-28页
    3.3 退化机理一致性检验第28-30页
        3.3.1 对数正态分布下退化机理一致性检验第29页
        3.3.2 Weibull分布下退化机理一致性检验第29-30页
    3.4 双应力加速模型第30-32页
    3.5 应用研究第32-38页
    3.6 本章小结第38-39页
第4章 LED光源的蚁群神经网络预测寿命模型第39-52页
    4.1 蚁群群算法与BP神经网络原理第39-45页
        4.1.1 蚁群算法的数学模型第39-42页
        4.1.2 BP神经网络的结构设计第42-45页
    4.2 蚁群神经网络的预测模型第45-48页
    4.3 应用研究第48-51页
        4.3.1 推算伪失效寿命置信区间第48-49页
        4.3.2 蚁群神经网络训练第49-50页
        4.3.3 结果分析与比较第50-51页
    4.4 本章小结第51-52页
第5章 结论与展望第52-54页
    5.1 结论第52-53页
    5.2 展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-60页
附录第60-68页
    附录1 蚁群神经网络的输入数据和输出数据第60-61页
    附录2 MATLAB运行代码第61-68页
攻读学位期间的研究成果第68页

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