| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第9-26页 |
| 1.1 自旋电子学 | 第9-11页 |
| 1.1.1 自旋极化 | 第9-10页 |
| 1.1.2 自旋注入 | 第10-11页 |
| 1.1.3 自旋探测 | 第11页 |
| 1.2 Fe_4N和CoN的研究现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 Fe_4N的基本性质 | 第11-12页 |
| 1.2.2 Fe_4N基磁性隧道结的研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.3 CoN的基本性质 | 第15-17页 |
| 1.3 交换偏置效应 | 第17-20页 |
| 1.3.1 交换偏置的基本特征 | 第17-18页 |
| 1.3.2 正交换偏置 | 第18-20页 |
| 1.3.3 各向异性磁电阻效应 | 第20页 |
| 1.4 有机自旋阀 | 第20-24页 |
| 1.4.1 有机半导体Alq_3 | 第21-22页 |
| 1.4.2 有机自旋阀的研究现状 | 第22-24页 |
| 1.5 本论文的工作 | 第24-26页 |
| 第二章 样品的制备、结构表征与物性测量 | 第26-33页 |
| 2.1 Fe_4N/CoN双层膜的制备 | 第26-28页 |
| 2.1.1 对向靶反应磁控溅射法的基本原理 | 第26-27页 |
| 2.1.2 Fe_4N/CoN双层膜的制备方法 | 第27-28页 |
| 2.2 Fe_4N/Alq_3/Co有机自旋阀的制备 | 第28-29页 |
| 2.2.1 真空蒸发法的基本原理 | 第28页 |
| 2.2.2 Fe_4N/Alq_3/Co有机自旋阀的制备方法 | 第28-29页 |
| 2.3 结构表征和物性测量 | 第29-33页 |
| 2.3.1 表面形貌测量仪(台阶仪) | 第29-30页 |
| 2.3.2 X射线衍射(XRD) | 第30页 |
| 2.3.3 原子力显微镜(AFM) | 第30页 |
| 2.3.4 透射电子显微镜(TEM) | 第30-31页 |
| 2.3.5 磁性测量系统(MPMS) | 第31页 |
| 2.3.6 物理性质测量系统(PPMS) | 第31-32页 |
| 2.3.7 紫外可见吸收光谱 | 第32页 |
| 2.3.8 光致发光谱 | 第32-33页 |
| 第三章 Fe_4N/CoN双层膜的交换偏置 | 第33-52页 |
| 3.1 Fe_4N和CoN单层膜的结构和表面形貌 | 第33-35页 |
| 3.2 Fe_4N/CoN双层膜的微观结构和表面形貌 | 第35-38页 |
| 3.3 Fe_4N/CoN双层膜的交换偏置 | 第38-44页 |
| 3.4 Fe_4N/CoN双层膜的各向异性磁电阻 | 第44-51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 Fe_4N/Alq_3/Co有机自旋阀的磁电输运特性 | 第52-67页 |
| 4.1 Alq_3薄膜的表面形貌和光学性质 | 第52-55页 |
| 4.2 Fe_4N/Alq_3双层膜的界面结构和光学性质 | 第55-56页 |
| 4.3 Fe_4N/Alq_3/Co有机自旋阀的形貌和磁电输运特性 | 第56-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 第五章 总结 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-77页 |
| 攻读硕士学位期间完成的学术论文 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
