致谢 | 第1-6页 |
中文摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
目录 | 第8-11页 |
1 引言 | 第11-17页 |
·SVG的研究现状及发展趋势 | 第11-14页 |
·技术发展的回顾 | 第11页 |
·SVG主电路拓扑比较 | 第11-13页 |
·级联式SVG的研究现状和发展趋势 | 第13-14页 |
·SVG在风电场中应用现状 | 第14-15页 |
·课题研究的提出和意义 | 第15-16页 |
·论文的主要研究工作 | 第16-17页 |
2 链节单元试验平台的搭建 | 第17-25页 |
·链节单元试验平台 | 第17-18页 |
·链节单元 | 第18-19页 |
·链节单元各部分介绍 | 第19-21页 |
·H桥电路 | 第19页 |
·直流电容 | 第19页 |
·直流取能电源 | 第19页 |
·单元控制器 | 第19-21页 |
·驱动电路 | 第21页 |
·链节单元的工作原理 | 第21-22页 |
·链节单元的主要技术指标 | 第22-23页 |
·链节单元测试 | 第23-24页 |
·链节单元空载测试 | 第23-24页 |
·链节单元负载测试 | 第24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
3 链节单元测试系统的总体设计 | 第25-43页 |
·测试系统的总体设计流程 | 第25页 |
·拟实现的技术指标 | 第25-26页 |
·测试系统总体设计 | 第26-27页 |
·SPWM调制方式对比介绍 | 第27-36页 |
·双极性调制方式 | 第27-30页 |
·单极性调制方式 | 第30-32页 |
·单极倍频调制方式 | 第32-35页 |
·三种调制方式对比 | 第35-36页 |
·测试系统方案对比介绍 | 第36-39页 |
·方案1:基于DSP的链节单元测试系统 | 第36-37页 |
·方案2:基于DSP和CPLD的链节单元测试系统 | 第37-38页 |
·方案3:基于ARM和CPLD的链节单元测试系统 | 第38页 |
·三种方案对比与最终方案的选定 | 第38-39页 |
·测试系统最终方案介绍 | 第39-41页 |
·本章小结 | 第41-43页 |
4 测试系统下位机硬件电路的设计 | 第43-55页 |
·测试系统下位机的功能与结构设计 | 第43-44页 |
·下位机系统的功能设计 | 第43页 |
·下位机系统的结构设计 | 第43-44页 |
·主控制器STM32F103ZET6及其最小系统设计 | 第44-48页 |
·电源电路设计 | 第45-46页 |
·时钟电路设计 | 第46-47页 |
·复位电路设计 | 第47页 |
·JTAG接口电路设计 | 第47-48页 |
·协控制器CPLD EPM1270T144C5N及其外围电路设计 | 第48-49页 |
·通讯电路设计 | 第49-51页 |
·上位机与下位机通讯硬件设计 | 第49-50页 |
·光纤通讯接口电路设计 | 第50-51页 |
·辅助功能电路设计 | 第51-53页 |
·键盘电路设计 | 第52页 |
·故障显示电路设计 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-55页 |
5 测试系统的软件设计 | 第55-69页 |
·基于MCGS的上位机监控系统设计 | 第55-59页 |
·上位机监控系统功能分析 | 第55页 |
·上位机监控系统的实现 | 第55-59页 |
·上位机与下位机通讯设计 | 第59-62页 |
·Modbus协议概述 | 第59-61页 |
·上位机与下位机通信协议 | 第61-62页 |
·下位机系统软件设计 | 第62-68页 |
·ARM程序设计 | 第62-66页 |
·CPLD程序设计 | 第66-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
6 测试系统调试及试验 | 第69-75页 |
·系统性能测试 | 第69-71页 |
·测试系统直流电压测试 | 第69页 |
·测试系统故障位测试 | 第69-70页 |
·测试系统稳定性测试 | 第70-71页 |
·链节单元测试试验 | 第71-74页 |
·链节单元空载性能试验 | 第71-72页 |
·链节单元负载性能试验 | 第72-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
7 总结与展望 | 第75-77页 |
·全文工作总结 | 第75页 |
·今后工作展望 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
作者简历 | 第81-85页 |
学位论文数据集 | 第85页 |