| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 霍普金森压杆(SHPB)研究现状 | 第11页 |
| 1.2 SHPB在软材料测试中的应用 | 第11-14页 |
| 1.3 石英晶体传感器在SHPB中应用的研究现状 | 第14-18页 |
| 1.4 本文研究的主要内容 | 第18-19页 |
| 1.5 本文研究的创新点 | 第19页 |
| 1.6 论文结构 | 第19-21页 |
| 2 霍普金森压杆实验及石英晶体传感器的基本理论 | 第21-34页 |
| 2.1 SHPB实验的基本理论 | 第21-25页 |
| 2.2 石英晶体传感器的基本理论 | 第25-31页 |
| 2.2.1 石英晶体的压电性能 | 第25-27页 |
| 2.2.2 石英晶体的压电方程 | 第27-29页 |
| 2.2.3 石英晶体系数的坐标变换 | 第29-31页 |
| 2.3 X切石英晶体在SHPB中应用的基本理论 | 第31-34页 |
| 3 石英晶体静力加载有限元分析 | 第34-43页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 石英晶体静力加载理论计算 | 第34-36页 |
| 3.3 石英晶体静力加载有限元仿真 | 第36-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 4 考虑石英晶体传感器的霍普金森压杆有限元仿真分析 | 第43-62页 |
| 4.1 引言 | 第43-44页 |
| 4.2 考虑石英晶体传感器的霍普金森压杆有限元建模 | 第44-48页 |
| 4.2.1 模型的建立与材料的定义 | 第44-45页 |
| 4.2.2 网格划分 | 第45页 |
| 4.2.3 边界条件及载荷的设定 | 第45-46页 |
| 4.2.4 分析步的定义及任务的提交 | 第46-47页 |
| 4.2.5 霍普金森压杆有限元模型的校核 | 第47-48页 |
| 4.3 端部效应对石英晶体传感器信号影响的有限元分析 | 第48-60页 |
| 4.3.1 端部效应的影响范围 | 第48-50页 |
| 4.3.2 试样直径对端部效应的影响 | 第50-53页 |
| 4.3.3 试样杨氏模量对端部效应的影响 | 第53-55页 |
| 4.3.4 试样内外径比值对端部效应的影响 | 第55-59页 |
| 4.3.5 子弹速度对端部效应的影响 | 第59-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 5 端部效应对石英晶体传感器信号影响的实验验证 | 第62-75页 |
| 5.1 实验装置介绍 | 第62-63页 |
| 5.2 石英晶体动态标定 | 第63-67页 |
| 5.3 端部效应对石英晶体传感器信号影响的实验验证 | 第67-74页 |
| 5.3.1 子弹速度对端部效应影响的实验验证 | 第67-69页 |
| 5.3.2 试样直径对端部效应影响的实验验证 | 第69-72页 |
| 5.3.3 试样内外径比值对端部效应影响的实验验证 | 第72-74页 |
| 5.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 6 道砟垫动态力学性能测试 | 第75-88页 |
| 6.1 引言 | 第75-76页 |
| 6.2 实验测试 | 第76-81页 |
| 6.2.1 试样尺寸设计 | 第76-78页 |
| 6.2.2 实验介绍 | 第78-79页 |
| 6.2.3 实验结果 | 第79-81页 |
| 6.3 应变率效应分析 | 第81-84页 |
| 6.4 吸能率分析 | 第84-87页 |
| 6.5 本章小结 | 第87-88页 |
| 7 总结与展望 | 第88-90页 |
| 7.1 总结 | 第88-89页 |
| 7.2 展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-95页 |
| 作者简历 | 第95页 |
| 攻读硕士学位期间主要的研究成果 | 第95页 |
