| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-31页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第16页 |
| 1.2 激光束远场参数测量的国内外研究历史与现状 | 第16-28页 |
| 1.2.1 烧蚀法 | 第17页 |
| 1.2.2 感光法 | 第17页 |
| 1.2.3 扫描法 | 第17-20页 |
| 1.2.4 CCD成像法 | 第20-23页 |
| 1.2.4.1 直接成像法 | 第20-21页 |
| 1.2.4.2 间接成像法 | 第21-23页 |
| 1.2.5 阵列探测器法 | 第23-27页 |
| 1.2.5.1 光电法 | 第23-25页 |
| 1.2.5.2 光热法 | 第25-27页 |
| 1.2.5.3 光电-光热复合法 | 第27页 |
| 1.2.6 其他方法 | 第27-28页 |
| 1.2.7 现有技术存在的问题 | 第28页 |
| 1.3 本文的主要内容 | 第28-31页 |
| 第二章 激光束远场参数及其测量要求 | 第31-60页 |
| 2.1 激光束远场强度时空分布 | 第31-33页 |
| 2.2 激光强度时空分布测量 | 第33-40页 |
| 2.2.1 激光束空间取样 | 第33-34页 |
| 2.2.2 阵列探测器法 | 第34-36页 |
| 2.2.3 测量不确定度理论 | 第36-37页 |
| 2.2.4 激光强度时空分布测量不确定度 | 第37-40页 |
| 2.2.4.1 探测单元响应系数不确定度 | 第37页 |
| 2.2.4.2 探测单元强度测量不确定度 | 第37页 |
| 2.2.4.3 探测单元背景强度测量不确定度 | 第37-38页 |
| 2.2.4.4 激光入射角引入的测量不确定度 | 第38页 |
| 2.2.4.5 环境因素引入的测量不确定度 | 第38-39页 |
| 2.2.4.6 瞬时光斑强度分布合成不确定度 | 第39页 |
| 2.2.4.7 积分光斑强度分布测量不确定度 | 第39-40页 |
| 2.3 激光束远场参数及计算 | 第40-42页 |
| 2.4 激光束远场参数测量要求 | 第42-57页 |
| 2.4.1 激光束空间取样要求 | 第42-53页 |
| 2.4.1.1 阵列探测器探测口径要求 | 第42-43页 |
| 2.4.1.2 阵列探测器测量动态范围要求 | 第43-44页 |
| 2.4.1.3 空间取样分辨力要求 | 第44-49页 |
| 2.4.1.4 空间取样占空比要求 | 第49-53页 |
| 2.4.1.5 空间取样要求小结 | 第53页 |
| 2.4.2 取样光斑参数测量不确定度 | 第53-57页 |
| 2.4.2.1 激光功率测量不确定度 | 第53-54页 |
| 2.4.2.2 质心位置测量不确定度 | 第54-55页 |
| 2.4.2.3 质心抖动测量不确定度 | 第55-56页 |
| 2.4.2.4 环围参数测量不确定度 | 第56页 |
| 2.4.2.5 取样光斑参数测量要求小结 | 第56-57页 |
| 2.5 实验验证 | 第57-59页 |
| 2.6 本章小结 | 第59-60页 |
| 第三章 激光束高精度取样方法研究 | 第60-80页 |
| 3.1 现有激光束取样方法 | 第60-61页 |
| 3.2 漫透射取样方法 | 第61-78页 |
| 3.2.1 散射 | 第61-67页 |
| 3.2.1.1 表面反射 | 第61页 |
| 3.2.1.2 体散射透射 | 第61-63页 |
| 3.2.1.3 漫散射光强分布 | 第63页 |
| 3.2.1.4 漫散射光分布角度响应特性研究 | 第63-66页 |
| 3.2.1.5 漫散射反射及透射光强度 | 第66-67页 |
| 3.2.2 取样材料散射特性实验研究 | 第67-71页 |
| 3.2.2.1 角分布特性测试 | 第67-69页 |
| 3.2.2.2 角度响应特性测试 | 第69-70页 |
| 3.2.2.3 响应线性测试 | 第70-71页 |
| 3.2.3 漫透射取样靶面设计 | 第71-72页 |
| 3.2.4 取样靶面角度响应特性 | 第72-78页 |
| 3.2.4.1 取样单元角度响应分析 | 第72-73页 |
| 3.2.4.2 光学追迹法分析取样单元角度响应特性 | 第73-76页 |
| 3.2.4.3 取样靶面角度响应分析 | 第76-78页 |
| 3.3 漫透射取样方法的应用 | 第78-79页 |
| 3.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第四章 高能激光高精度阵列探测器技术研究 | 第80-110页 |
| 4.1 高能激光阵列探测技术 | 第80-81页 |
| 4.2 高能激光取样衰减单元设计 | 第81-87页 |
| 4.2.1 取样衰减器设计 | 第81-82页 |
| 4.2.2 光强衰减倍率推导 | 第82-83页 |
| 4.2.3 取样单元内光强分布对探测器接收光的影响 | 第83-85页 |
| 4.2.4 石墨通道侧壁对探测器接收光的影响 | 第85-86页 |
| 4.2.5 光强衰减倍率实验验证 | 第86-87页 |
| 4.3 靶面耐强光设计 | 第87-97页 |
| 4.3.1 取样材料 | 第87-88页 |
| 4.3.2 靶面板 | 第88-97页 |
| 4.3.2.1 靶面板材料选择 | 第88页 |
| 4.3.2.2 靶面板表面处理及反射率特性 | 第88-89页 |
| 4.3.2.3 靶面板温度场分布有限元分析 | 第89-95页 |
| 4.3.2.4 耐强光考核 | 第95-96页 |
| 4.3.2.5 反射光防护 | 第96-97页 |
| 4.4 探测器单元设计 | 第97-98页 |
| 4.5 信号、数据处理系统介绍 | 第98-99页 |
| 4.5.1 信号采集处理电路 | 第98-99页 |
| 4.5.2 数据采集处理系统 | 第99页 |
| 4.6 响应非均匀性校正技术 | 第99-101页 |
| 4.6.1 非均匀性校准方法与步骤 | 第99-100页 |
| 4.6.2 非均匀性校准数据处理 | 第100-101页 |
| 4.6.3 探测单元响应系数不确定度 | 第101页 |
| 4.7 功率系数标定 | 第101-103页 |
| 4.7.1 功率系数标定方法与步骤 | 第101-102页 |
| 4.7.2 功率系数数据处理 | 第102页 |
| 4.7.3 功率系数不确定度 | 第102-103页 |
| 4.8 高能激光阵列探测器实验研究 | 第103-108页 |
| 4.8.1 高能激光阵列探测器性能 | 第103页 |
| 4.8.2 响应非均匀性 | 第103-104页 |
| 4.8.3 角度响应 | 第104-105页 |
| 4.8.4 功率测量验证 | 第105-106页 |
| 4.8.5 远场光斑测试结果 | 第106-108页 |
| 4.9 本章小结 | 第108-110页 |
| 第五章 CCD成像型阵列探测器技术研究 | 第110-128页 |
| 5.1 引言 | 第110页 |
| 5.2 基本组成及原理 | 第110-111页 |
| 5.3 系统集成技术 | 第111-112页 |
| 5.4 光斑形状畸变及其校正 | 第112-116页 |
| 5.4.1 光斑形状畸变 | 第112-113页 |
| 5.4.2 光斑形状畸变校正 | 第113-116页 |
| 5.4.2.1 现有图像校正方法 | 第113-114页 |
| 5.4.2.2 光斑形状畸变校正 | 第114-116页 |
| 5.4.2.3 光斑形状畸变校正验证 | 第116页 |
| 5.5 光斑强度分布畸变及校正技术 | 第116-122页 |
| 5.5.1 光斑强度分布畸变 | 第116-119页 |
| 5.5.1.1 像面照度分布分析 | 第116-119页 |
| 5.5.1.2 取样材料非一致性 | 第119页 |
| 5.5.1.3 其他因素 | 第119页 |
| 5.5.2 光斑强度分布畸变校正 | 第119-122页 |
| 5.5.2.1 校正方法和步骤 | 第120页 |
| 5.5.2.2 数据处理 | 第120-121页 |
| 5.5.2.3 校准系数不确定度 | 第121页 |
| 5.5.2.4 校正结果验证 | 第121-122页 |
| 5.6 功率系数校准 | 第122-123页 |
| 5.6.1 校准方法 | 第122页 |
| 5.6.2 功率系数数据处理 | 第122-123页 |
| 5.6.3 功率系数不确定度 | 第123页 |
| 5.7 多波长激光CCD成像测量技术 | 第123-124页 |
| 5.8 实验研究 | 第124-127页 |
| 5.9 本章小结 | 第127-128页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第128-131页 |
| 6.1 全文总结 | 第128-130页 |
| 6.1.1 主要贡献 | 第128-129页 |
| 6.1.2 主要创新点 | 第129-130页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第130-131页 |
| 致谢 | 第131-132页 |
| 参考文献 | 第132-138页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第138-139页 |