致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
第一章 引言 | 第13-27页 |
1.1 原子核质量测量意义 | 第13-14页 |
1.2 原子核质量测量方法 | 第14-22页 |
1.2.1 间接测量技术 | 第14-15页 |
1.2.2 TOF-Bρ质谱技术 | 第15页 |
1.2.3 彭宁阱质谱技术 | 第15-17页 |
1.2.4 储存环质谱技术 | 第17-22页 |
1.3 基于兰州重离子冷却储存环(HIRFL-CSR)的原子核质量测量 | 第22-27页 |
1.3.1 HIRFL-CSR上短寿命原子核的产生与分离 | 第23-25页 |
1.3.2 储存环CSRe上离子飞行时间的探测与获取 | 第25-27页 |
第二章 单TOF质量测量数据处理方法研究 | 第27-55页 |
2.1 概述 | 第27-28页 |
2.2 确定基线并平滑信号 | 第28页 |
2.3 信号识别并定时 | 第28-31页 |
2.4 关联离子信号并提取离子循环周期 | 第31-38页 |
2.4.1 △T的确定 | 第32页 |
2.4.2 全谱扫描 | 第32-33页 |
2.4.3 离子循环周期的提取 | 第33-38页 |
2.5 离子鉴别 | 第38-43页 |
2.6 磁场修正 | 第43-51页 |
2.7 质量刻度 | 第51-54页 |
2.8 数据处理程序介绍 | 第54-55页 |
第三章 A=80缺中子核区附近~(112)Sn碎片的单TOF质量测量 | 第55-79页 |
3.1 实验动机 | 第55-58页 |
3.2 实验概述 | 第58-59页 |
3.3 实验步骤 | 第59-60页 |
3.4 数据处理 | 第60-69页 |
3.4.1 第一个实验 | 第61-65页 |
3.4.2 第二个实验 | 第65-67页 |
3.4.3 第三个实验 | 第67-69页 |
3.5 三次质量测量实验结果小结 | 第69-70页 |
3.6 相关原子核质量预测 | 第70-75页 |
3.6.1 依据中子分离能变化规律对~(80)Zr和~(84)Mo的质量预测 | 第70-73页 |
3.6.2 依据库伦位移能对~(78)Y、~(82)Nb、~(86)Tc、~(90)Rh和~(94)Ag的质量预测 | 第73-74页 |
3.6.3 小结 | 第74-75页 |
3.7 结果与讨论 | 第75-79页 |
第四章 第一次双TOF质量测量实验 | 第79-93页 |
4.1 实验动机 | 第79-80页 |
4.2 实验原理 | 第80-82页 |
4.3 实验概述 | 第82-83页 |
4.4 数据处理 | 第83-91页 |
4.4.1 基本步骤 | 第83-84页 |
4.4.2 两TOF探测器的性能分析与比较 | 第84-88页 |
4.4.3 速度测量 | 第88-91页 |
4.5 结果与讨论 | 第91-93页 |
第五章 储存环中的平均轨道近似及其应用 | 第93-121页 |
5.1 概述 | 第93页 |
5.2 平均轨道理论推导 | 第93-114页 |
5.2.1 假想储存环与实验储存环相同 | 第94-100页 |
5.2.2 假想储存环与实验储存环不同 | 第100-107页 |
5.2.3 离子周期的单次注入磁场修正 | 第107-109页 |
5.2.4 平均轨道和平均磁刚度的获取 | 第109-114页 |
5.3 平均轨道和平均磁刚度的间接检验 | 第114-115页 |
5.4 假想储存环离子周期变化规律的检验 | 第115-116页 |
5.5 磁场修正后周期分散与假想轨道取值近似无关的检验 | 第116-118页 |
5.6 磁场修正效果的检验 | 第118-121页 |
5.6.1 σ(T)的检验 | 第118-119页 |
5.6.2 质量刻度结果的检验 | 第119-121页 |
第六章 总结与展望 | 第121-123页 |
附录A 储存环质量测量差分形式原理公式推导一 | 第123-125页 |
附录B 储存环质量测量差分形式原理公式推导二 | 第125-129页 |
附录C 离子在储存环中的损失规律及要求离子储存时长大于186μs对数据处理结果的影响 | 第129-135页 |
C.1 离子在储存环中的损失规律 | 第129-132页 |
C.2 要求离子储存时长大于186μs对数据处理结果的影响 | 第132-135页 |
参考文献 | 第135-143页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第143-145页 |