摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-28页 |
1.1 研究背景和意义 | 第12页 |
1.2 有机薄膜 | 第12-13页 |
1.3 薄膜的开关机理 | 第13-26页 |
1.3.1 氧化还原型 | 第13-16页 |
1.3.2 电荷转移型 | 第16-18页 |
1.3.3 分子结构改变型 | 第18-20页 |
1.3.4 电极金属渗透导电型 | 第20-24页 |
1.3.5 热响应型 | 第24-25页 |
1.3.6 其它开关类型 | 第25-26页 |
1.4 本论文的主要工作 | 第26-28页 |
第2章 基于二氧化锡裂隙的有机薄膜电学特性研究 | 第28-60页 |
2.1 引言 | 第28-29页 |
2.2 实验部分 | 第29-35页 |
2.2.1 实验所用的设备与器材 | 第29-30页 |
2.2.2 主要原料 | 第30-31页 |
2.2.3 实验流程 | 第31-35页 |
2.3 薄膜样品的表征手段 | 第35-38页 |
2.3.1 薄膜厚度测量 | 第35页 |
2.3.2 X射线衍射 | 第35-36页 |
2.3.3 扫描电子显微镜 | 第36页 |
2.3.4 透射电子显微镜 | 第36-37页 |
2.3.5 电学特性测试 | 第37-38页 |
2.3.6 光学特性测试 | 第38页 |
2.4 结果与分析 | 第38-58页 |
2.4.1 X射线衍射分析 | 第38-42页 |
2.4.2 扫描电子显微镜分析 | 第42-50页 |
2.4.3 透射电子显微镜分析 | 第50页 |
2.4.4 电学特性分析 | 第50-57页 |
2.4.5 紫外-可见吸收光谱分析 | 第57-58页 |
2.5 本章小结 | 第58-60页 |
第3章 有机分子MV115薄膜的制备和电学特性表征 | 第60-84页 |
3.1 引言 | 第60页 |
3.2 实验部分 | 第60-63页 |
3.2.1 实验所需材料及仪器设备 | 第60-61页 |
3.2.2 实验流程 | 第61-63页 |
3.3 器件的表征 | 第63-82页 |
3.3.1 X射线衍射分析 | 第63-64页 |
3.3.2 扫描电子显微镜分析 | 第64-72页 |
3.3.3 透射电子显微镜分析 | 第72-73页 |
3.3.4 电学特性表征 | 第73-81页 |
3.3.5 紫外-可见吸收光谱分析 | 第81-82页 |
3.4 本章小结 | 第82-84页 |
第4章 有机分子MV73薄膜的制备与电学特性表征 | 第84-98页 |
4.1 实验部分 | 第84-85页 |
4.1.1 实验所需材料及仪器设备 | 第84页 |
4.1.2 溶液的制备 | 第84-85页 |
4.1.3 薄膜的制备 | 第85页 |
4.2 薄膜的表征 | 第85-95页 |
4.2.1 X射线衍射分析 | 第85-86页 |
4.2.2 扫描电子显微镜分析 | 第86-90页 |
4.2.3 透射电子显微镜分析 | 第90页 |
4.2.4 紫外-可见吸收光谱分析 | 第90-91页 |
4.2.5 电学特性的表征 | 第91-95页 |
4.3 掺有不同纳米粒子的薄膜开关比的比较与分析 | 第95页 |
4.4 本章小结 | 第95-98页 |
第5章 结论与展望 | 第98-100页 |
5.1 主要结论 | 第98-99页 |
5.2 研究展望 | 第99-100页 |
参考文献 | 第100-108页 |
致谢 | 第108-110页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第110页 |