| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 研究内容及创新点 | 第16-17页 |
| 1.4 本文结构 | 第17-19页 |
| 第二章 辐照环境下的集成电路软错误问题 | 第19-25页 |
| 2.1 软错误背景知识 | 第19-21页 |
| 2.1.1 单粒子效应 | 第19-20页 |
| 2.1.2 软错误概念 | 第20页 |
| 2.1.3 软错误原理分析 | 第20-21页 |
| 2.2 软错误防护层次 | 第21-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 晶体管级软错误防护方法研究 | 第25-45页 |
| 3.1 基于边沿检测的检错触发器 | 第25-28页 |
| 3.1.1 基于边沿检测的检错触发器电路原理 | 第25-27页 |
| 3.1.2 基于边沿检测的检错触发器的电路仿真 | 第27-28页 |
| 3.1.3 基于边沿检测的检错触发器的优缺点 | 第28页 |
| 3.2 基于DICE单元的真单相钟控加固触发器 | 第28-32页 |
| 3.2.1 DICE单元 | 第28-29页 |
| 3.2.2 基于DICE单元的真单相钟控触发器原理 | 第29-30页 |
| 3.2.3 基于DICE单元的真单相钟控触发器的电路仿真 | 第30-32页 |
| 3.2.4 基于DICE单元的真单相钟控触发器的优缺点 | 第32页 |
| 3.3 基于QUATRO单元的软错误加固触发器 | 第32-36页 |
| 3.3.1 Quatro存储单元 | 第32-33页 |
| 3.3.2 基于Quatro单元的软错误防护触发器 | 第33-34页 |
| 3.3.3 基于Quatro单元的软错误防护触发器的电路仿真 | 第34-36页 |
| 3.3.4 基于Quatro单元的软错误防护触发器的优缺点 | 第36页 |
| 3.4 可调SEU防护锁存器 | 第36-39页 |
| 3.4.1 可调SEU防护锁存器 | 第36-38页 |
| 3.4.2 可调SEU防护锁存器的电路仿真 | 第38-39页 |
| 3.4.3 可调SEU防护锁存器的优缺点 | 第39页 |
| 3.5 基于错误检测的SEU容错锁存器 | 第39-43页 |
| 3.5.1 基于错误检测的SEU容错锁存器原理 | 第39-41页 |
| 3.5.2 基于错误检测的SEU容错锁存器的电路仿真 | 第41-43页 |
| 3.5.3 基于错误检测的SEU容错锁存器的优缺点 | 第43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 逻辑级软错误防护方法研究 | 第45-55页 |
| 4.1 常见的逻辑级容错方法 | 第45-47页 |
| 4.1.1 三模冗余技术 | 第45页 |
| 4.1.2 基于回卷恢复的FSM结构 | 第45-46页 |
| 4.1.3 基于状态机拆分的自恢复FSM电路结构 | 第46-47页 |
| 4.2 DE-FSM自恢复状态机的设计与仿真 | 第47-54页 |
| 4.2.1 状态机拆分 | 第47-48页 |
| 4.2.2 De_FSM自恢复状态机的电路设计 | 第48-50页 |
| 4.2.3 De_FSM自恢复状态机的基本功能仿真与电路综合 | 第50-52页 |
| 4.2.4 De_FSM自恢复状态机的容错性能验证 | 第52-54页 |
| 4.2.5 De_FSM自恢复状态机的优缺点 | 第54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 开关型冗余加固脉冲触发器 | 第55-63页 |
| 5.1 开关型冗余加固脉冲触发器原理 | 第55-57页 |
| 5.1.1 开关型脉冲触发器 | 第55-56页 |
| 5.1.2 开关型冗余加固脉冲触发器 | 第56-57页 |
| 5.2 开关型冗余加固脉冲触发器电路仿真 | 第57-61页 |
| 5.2.1 开关型冗余加固脉冲触发器基本功能仿真 | 第57-58页 |
| 5.2.2 开关型冗余加固脉冲触发器各项参数的设置与仿真 | 第58-59页 |
| 5.2.3 开关型冗余加固脉冲触发器的软错误防护功能验证 | 第59-61页 |
| 5.3 开关型冗余加固脉冲触发器的优缺点 | 第61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 开关型冗余加固脉冲触发器的版图设计及测试验证 | 第63-73页 |
| 6.1 全定制版图设计方法 | 第63-64页 |
| 6.2 开关型冗余加固脉冲触发器与移位寄存器的全定制版图设计 | 第64-67页 |
| 6.2.1 版图设计 | 第64-66页 |
| 6.2.2 版图模拟 | 第66-67页 |
| 6.3 开关型冗余加固脉冲移位寄存器的投片与测试 | 第67-71页 |
| 6.3.1 芯片版图与显微照片 | 第67-69页 |
| 6.3.2 测试方案 | 第69-70页 |
| 6.3.3 测试结果 | 第70-71页 |
| 6.4 结论 | 第71页 |
| 6.5 本章小结 | 第71-73页 |
| 第七章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 7.1 论文总结 | 第73页 |
| 7.2 工作展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简介 | 第79-80页 |
