储运发射箱长期储存性能研究
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第8-18页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
1.2 国内外金属材料失效研究 | 第9-14页 |
1.2.1 金属材料的疲劳失效 | 第9页 |
1.2.2 金属材料的腐蚀失效 | 第9-10页 |
1.2.3 金属材料的蠕变失效 | 第10-14页 |
1.3 国内外故障诊断技术研究应用现状 | 第14-16页 |
1.3.1 故障诊断技术的发展史 | 第14-15页 |
1.3.2 常用的故障诊断技术 | 第15-16页 |
1.4 论文主要工作内容 | 第16-18页 |
2 储运发射箱箱体材料长期储存性能研究 | 第18-37页 |
2.1 储运发射箱箱体储存失效原理 | 第18-21页 |
2.1.1 储运发射箱箱体功能及库存环境 | 第18-20页 |
2.1.2 储运发射箱存储失效原因 | 第20-21页 |
2.1.3 储运发射箱箱体材料 | 第21页 |
2.2 箱体储存过程中的力学性能研究 | 第21-26页 |
2.2.1 金属材料弹性应变率 | 第22-23页 |
2.2.2 金属材料塑性应变率 | 第23-25页 |
2.2.3 金属材料蠕变应变率 | 第25-26页 |
2.3 有限元软件中的子程序 | 第26-30页 |
2.3.1 ABAQUS概述 | 第27-28页 |
2.3.2 用户子程序UMAT | 第28-29页 |
2.3.3 UMAT的调用与算法 | 第29-30页 |
2.4 用户材料子程序UMAT的设计 | 第30-36页 |
2.4.1 弹塑性状态的决定 | 第30-32页 |
2.4.2 应力更新流程 | 第32-35页 |
2.4.3 雅克比矩阵的推导 | 第35-36页 |
2.5 本章小结 | 第36-37页 |
3 储运发射箱长期堆码储存有限元仿真 | 第37-50页 |
3.1 Q345钢材料参数获取实验 | 第37-41页 |
3.1.1 Hopkinson压杆装置与原理 | 第37-40页 |
3.1.2 Q345钢蠕变参数的实验确定 | 第40-41页 |
3.2 储运发射箱堆码长期储存有限元仿真 | 第41-43页 |
3.2.1 储运发射箱的网格划分 | 第41-42页 |
3.2.2 接触及边界条件 | 第42-43页 |
3.2.3 储运发射箱堆码仿真过程设置 | 第43页 |
3.3 有限元仿真结果分析 | 第43-49页 |
3.4 本章小结 | 第49-50页 |
4 长期储存后储运发射箱故障树分析 | 第50-66页 |
4.1 故障树分析方法 | 第50-53页 |
4.1.1 故障树中的基本符号 | 第50-51页 |
4.1.2 故障树的建树步骤 | 第51页 |
4.1.3 故障树的定性分析与定量计算 | 第51-53页 |
4.2 模糊故障树分析方法 | 第53-60页 |
4.2.1 模糊数学理论 | 第53-57页 |
4.2.2 模糊故障树定量计算 | 第57-58页 |
4.2.3 模糊故障概率的确定 | 第58-60页 |
4.3 储运发射箱模糊故障树分析 | 第60-64页 |
4.3.1 储运发射箱模糊故障树建立 | 第60-61页 |
4.3.2 储运发射箱模糊故障树定性分析 | 第61-62页 |
4.3.3 储运发射箱模糊故障树定量计算 | 第62-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-66页 |
5 储运发射箱故障检测装置设计 | 第66-72页 |
5.1 检测目标 | 第66页 |
5.2 储运发射箱故障检测装置方案设计 | 第66-68页 |
5.2.1 平面度检测方案 | 第66-67页 |
5.2.2 平行度检测方案 | 第67-68页 |
5.2.3 定位锁紧块位置检测方案 | 第68页 |
5.2.4 电路检测方案 | 第68页 |
5.3 储运发射箱故障检测装置结构设计 | 第68-71页 |
5.3.1 平移台结构设计 | 第68-69页 |
5.3.2 测头结构设计 | 第69-70页 |
5.3.3 盘片定位连接装置结构设计 | 第70-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-72页 |
6 总结与展望 | 第72-74页 |
6.1 论文总结 | 第72页 |
6.2 研究展望 | 第72-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
附录 | 第78页 |