摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-12页 |
第一章 绪论 | 第12-19页 |
·课题背景及研究的意义 | 第12-14页 |
·嵌入式 IP 核测试所面临的挑战 | 第12-13页 |
·片上网络简介 | 第13页 |
·课题研究的意义 | 第13-14页 |
·集成电路测试的相关标准 | 第14-16页 |
·IEEE 1149.1 标准 | 第14-15页 |
·IEEE 1500 标准 | 第15-16页 |
·国内外研究的现状 | 第16-17页 |
·课题研究的主要内容 | 第17-18页 |
·论文结构安排 | 第18-19页 |
第二章 NOC 架构及其测试访问机制概述 | 第19-26页 |
·NOC 的常见拓扑结构 | 第19-20页 |
·路由算法 | 第20-22页 |
·数据交换策略 | 第22-23页 |
·虚切通交换 | 第22-23页 |
·虫孔交换 | 第23页 |
·单播传输与多播传输 | 第23-24页 |
·NOC 的典型故障介绍 | 第24-25页 |
·复用 NOC 结构的测试访问机制 | 第25-26页 |
第三章 被测 NOC 结构的设计与实现 | 第26-40页 |
·数据包微片格式 | 第26-28页 |
·路由器模块实现 | 第28-38页 |
·多播路由算法 | 第29-33页 |
·仲裁算法 | 第33-34页 |
·交换开关 | 第34页 |
·网络适配器 | 第34-36页 |
·路由器的功能仿真 | 第36-37页 |
·路由器的面积功耗开销分析 | 第37-38页 |
·4×4 MESH 结构的整体架构 | 第38-40页 |
第四章 基于 IEEE1500 标准的 IP 核测试壳设计与实现 | 第40-56页 |
·IEEE 1500 测试壳标准架构 | 第40-43页 |
·ISCAS’89 基准时序电路集 | 第43-44页 |
·IP 核扫描链插入 | 第44页 |
·测试壳电路结构 | 第44-50页 |
·测试壳接口 | 第45-46页 |
·边界寄存器结构 | 第46-48页 |
·旁路寄存器结构 | 第48页 |
·测试控制指令集 | 第48-49页 |
·测试响应比较器 | 第49-50页 |
·测试壳的加载 | 第50-53页 |
·测试壳功能仿真及性能评估 | 第53-56页 |
·测试壳功能仿真 | 第53-54页 |
·测试壳面积开销分析 | 第54-56页 |
第五章 复用 MESH结构的内嵌 IP 核测试机制 | 第56-65页 |
·本课题所采用的复用 NOC 结构的测试策略 | 第56-57页 |
·子网测试模式 | 第57-61页 |
·外围映射模块 | 第57-59页 |
·数据包传输路径 | 第59-61页 |
·多播测试模式 | 第61-62页 |
·测试数据包结构 | 第61页 |
·数据包传输路径 | 第61-62页 |
·测试性能评估 | 第62-65页 |
·测试数据传输功耗估算 | 第62-63页 |
·测试时间评估 | 第63-65页 |
第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第71页 |