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VXI总线分析仪的研制

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第1章 绪论第9-15页
   ·课题的来源、背景和目的第9-10页
   ·数据域测试与总线分析仪第10-12页
     ·数据域测试第10-11页
     ·总线分析仪在数据域测试中的应用第11-12页
   ·总线分析仪发展现状第12-13页
   ·主要技术指标及研究内容第13-14页
   ·本文结构第14-15页
第2章 总体设计方案第15-23页
   ·分析仪模块功能分析第15-16页
   ·总体结构设计第16-17页
   ·硬件方案选择第17-21页
     ·功能电路方案选择第18-19页
     ·存储器方案的选择第19-20页
     ·VXI总线接口方案选择第20-21页
   ·软件平台方案第21-22页
   ·本章小结第22-23页
第3章 硬件的设计实现第23-48页
   ·FPGA内部逻辑结构第23-24页
   ·数据采样第24-28页
     ·瞬变存储原理第24-25页
     ·瞬变存储实现方案第25-26页
     ·时钟计数器第26页
     ·数据传输位宽的变换第26-28页
   ·触发电路实现第28-30页
     ·触发与跟踪原理第28页
     ·触发识别第28-30页
   ·数据存储与控制第30-38页
     ·SDRAM结构简介第30-32页
     ·SDRAM的操作第32-35页
     ·利用Verilog语言设计SDRAM控制器第35-38页
   ·VXI接口电路设计第38-44页
     ·译码逻辑第40-41页
     ·缓冲和DTACK~*驱动第41-42页
     ·寄存器配置第42-44页
   ·前面板LED显示第44-47页
   ·本章小结第47-48页
第4章 软件设计第48-55页
   ·软件规划第48-50页
     ·LabWindows/CVI简介第48-49页
     ·VISA概述第49-50页
     ·总线分析仪软件功能第50页
   ·驱动程序设计第50-51页
   ·软面板设计第51-54页
   ·本章小结第54-55页
第5章 模块的调试和测试第55-63页
   ·调试第55-57页
     ·调试内容及步骤第55-56页
     ·调试中遇到问题与分析第56-57页
   ·测试第57-58页
   ·测试数据与结果第58-61页
   ·本章小结第61-63页
结论第63-64页
参考文献第64-68页
致谢第68-69页
附录第69页

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