微带阵列天线互耦抑制技术的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景和意义 | 第10-12页 |
| ·缺陷地结构的发展概况及应用 | 第12-15页 |
| ·本文的主要内容和主要工作 | 第15-16页 |
| 第二章 矩形微带天线阵元的基本理论 | 第16-24页 |
| ·微带天线的特性 | 第16-17页 |
| ·微带天线的定义和结构 | 第16页 |
| ·微带天线的优缺点与应用 | 第16-17页 |
| ·微带天线的辐射特性 | 第17-19页 |
| ·微带天线中的表面波 | 第19-21页 |
| ·敷有介质层的导体平面 | 第19-21页 |
| ·表面波对天线性能的影响 | 第21页 |
| ·矩形微带天线单元的设计 | 第21-23页 |
| ·基片材料的选取 | 第22页 |
| ·微带天线单元长度和宽度的选取 | 第22-23页 |
| ·馈电方式的选择 | 第23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 微带阵列天线中的互耦及扫描盲点 | 第24-39页 |
| ·微带阵列天线的辐射特性 | 第24-26页 |
| ·天线阵中的互耦 | 第26-33页 |
| ·互耦的产生 | 第26-27页 |
| ·互耦对天线性能的影响 | 第27-29页 |
| ·互耦对阵元方向图的影响 | 第28页 |
| ·互耦对阵元输入阻抗和匹配的影响 | 第28-29页 |
| ·互耦效应的分析方法 | 第29-31页 |
| ·二元微带天线阵中的互耦 | 第31-33页 |
| ·微带天线E面耦合 | 第32页 |
| ·微带天线H面耦合 | 第32-33页 |
| ·天线阵列互耦抑制研究现状 | 第33-35页 |
| ·介质型光子晶体 | 第33-34页 |
| ·蘑菇状高阻表面光子晶体 | 第34-35页 |
| ·UC-EBG | 第35页 |
| ·相控阵天线中的扫描盲点 | 第35-39页 |
| ·相控阵天线的波束扫描 | 第35-36页 |
| ·扫描盲点现象 | 第36-39页 |
| 第四章 新型缺陷地结构在阵列天线中的应用 | 第39-49页 |
| ·新型DGS结构的设计及应用 | 第39-43页 |
| ·DGS结构的特性 | 第39-40页 |
| ·新型双U型槽DGS结构的设计 | 第40页 |
| ·DGS微带线阻带特性及参数提取分析 | 第40-42页 |
| ·DGS结构阻带特性分析模型的改进 | 第42-43页 |
| ·新型DGS结构在天线阵中的应用 | 第43-48页 |
| ·DGS结构抑制阵列天线中的互耦 | 第43-46页 |
| ·DGS结构抑制相控阵天线的扫描盲点 | 第46-48页 |
| ·相控阵天线分析模型的建立 | 第46-47页 |
| ·相控阵天线扫描盲点的抑制 | 第47-48页 |
| ·本章总结 | 第48-49页 |
| 第五章 结论和展望 | 第49-51页 |
| ·本论文研究总结 | 第49页 |
| ·前景展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第55页 |
