基于紫外检测法的非接触式特高压验电器的研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·课题的背景及意义 | 第9-10页 |
·本课题的发展概况 | 第10-16页 |
·局部放电检测技术的研究现状 | 第10-12页 |
·电晕放电检测技术的研究现状 | 第12-15页 |
·高压验电器的研究现状 | 第15-16页 |
·本课题主要研究内容 | 第16-17页 |
2 高压设备放电与紫外光检测技术 | 第17-21页 |
·电晕放电原理 | 第17-18页 |
·紫外光检测原理 | 第18-19页 |
·电晕放电的光谱分析 | 第18页 |
·检测光谱范围的选择 | 第18-19页 |
·紫外脉冲检测的实现 | 第19-21页 |
3 基于紫外检测法的非接触式特高压验电器的研制 | 第21-42页 |
·特高压验电器的研制背景 | 第21页 |
·非接触式特高压验电器的硬件电路设计 | 第21-36页 |
·非接触式特高压验电器的电路组成 | 第21-22页 |
·紫外传感器及其驱动电路设计 | 第22-25页 |
·C8051F020 简介 | 第25-26页 |
·电源设计 | 第26-27页 |
·温湿度模块 | 第27-28页 |
·信号预处理 | 第28-29页 |
·信号处理 | 第29-30页 |
·数据存储 | 第30页 |
·自检模块 | 第30-31页 |
·液晶显示模块 | 第31-33页 |
·人机界面及按键防抖动处理 | 第33-35页 |
·硬件实物图 | 第35-36页 |
·非接触式特高压验电器的程序设计程序设计 | 第36-38页 |
·辅助检测设备的设计与安装 | 第38-41页 |
·定向装置 | 第38-39页 |
·瞄准镜 | 第39-40页 |
·验电器实物图 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
4 非接触式特高压验电器的电磁兼容性及抗干扰设计 | 第42-47页 |
·特高压环境工频电磁场的现场测量 | 第42-44页 |
·易受干扰电路的敏感度分析 | 第44页 |
·电磁兼容性及抗干扰设计 | 第44-47页 |
·电场屏蔽 | 第44页 |
·磁场屏蔽 | 第44页 |
·屏蔽材料的选择 | 第44-45页 |
·屏蔽层数的选择 | 第45页 |
·其他屏蔽措施 | 第45-46页 |
·屏蔽实验及其结果 | 第46-47页 |
5 验电器的试验结果及其分析 | 第47-61页 |
·高压试验大厅试验结果及分析 | 第47-48页 |
·现场试验结果及分析 | 第48-58页 |
·750kV 现场试验及分析 | 第48-51页 |
·500kV 现场试验及分析 | 第51-53页 |
·330kV 现场试验及分析 | 第53-57页 |
·现场测试影响因素分析与小结 | 第57-58页 |
·检测规则的制定 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
6 结论与展望 | 第61-63页 |
·主要结论 | 第61-62页 |
·后续研究工作的展望 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-68页 |
附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第68页 |