| 第一章 前言 | 第1-15页 |
| ·概述 | 第10页 |
| ·高功率微波的发展现状 | 第10-13页 |
| ·计算机高功率微波毁伤失效研究的意义及采用的方法 | 第13-15页 |
| 第二章 HPM 的微波效应和对电子系统的毁伤作用 | 第15-24页 |
| ·高功率微波的微波效应 | 第15页 |
| ·高功率微波在电子设备上的耦合作用 | 第15-19页 |
| ·高功率微波对电子系统的干扰毁伤 | 第19-24页 |
| 第三章 计算机的高功率微波毁伤实验 | 第24-42页 |
| ·GTEM 小室简介 | 第24-26页 |
| ·计算机高功率微波毁伤实验 | 第26-34页 |
| ·计算机电磁脉冲易损性分析 | 第26-29页 |
| ·计算机的高功率微波毁伤实验 | 第29-34页 |
| ·计算机的高功率微波干扰失效机理 | 第34-42页 |
| 第四章 HPM 作用下的半导体器件毁伤机理 | 第42-49页 |
| ·半导体器件HPM 毁伤机理概述 | 第42-43页 |
| ·典型半导体器件和典型部件的HPM 毁伤机理 | 第43-49页 |
| 第五章 GTEM 室内场分布以及HPM 孔洞耦合的计算分析 | 第49-57页 |
| ·GTEM 小室内场强分布的分析 | 第49-52页 |
| ·高功率微波孔洞非线性耦合的计算 | 第52-57页 |
| 第六章 矩形波导内的微波模拟仿真 | 第57-63页 |
| ·概述 | 第57-58页 |
| ·仿真理论公式 | 第58-59页 |
| ·仿真条件和结果 | 第59-63页 |
| 第七章 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 个人简历及攻硕期间取得的研究成果 | 第68页 |