逻辑电路的等价性检验方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-20页 |
| ·研究背景及意义 | 第11-14页 |
| ·研究现状 | 第14-18页 |
| ·等价性检验方法的研究概况 | 第14-16页 |
| ·验证包含黑盒的电路设计的方法 | 第16-17页 |
| ·设计错误诊断方法 | 第17-18页 |
| ·本文的工作 | 第18-19页 |
| ·论文的组织结构 | 第19-20页 |
| 第二章 集成电路设计验证综述 | 第20-46页 |
| ·基于模拟的设计验证方法 | 第20-22页 |
| ·模拟验证方法 | 第20-21页 |
| ·模拟验证的覆盖率评估 | 第21-22页 |
| ·模拟验证方法的局限性 | 第22页 |
| ·半形式化方法 | 第22-24页 |
| ·覆盖率驱动的验证方法 | 第22-23页 |
| ·符号模拟 | 第23-24页 |
| ·形式化方法 | 第24-36页 |
| ·等价性检验 | 第24-33页 |
| ·组合电路等价性检验方法 | 第24-28页 |
| ·误判问题的消除 | 第28-29页 |
| ·时序电路的等价性检验方法 | 第29-32页 |
| ·寄存器的一致性 | 第32-33页 |
| ·模型检验 | 第33-35页 |
| ·系统属性的表示 | 第33-34页 |
| ·符号模型检验 | 第34-35页 |
| ·有界模型检验 | 第35页 |
| ·定理证明 | 第35-36页 |
| ·集成电路的设计错误诊断 | 第36-41页 |
| ·设计错误诊断方法 | 第37-39页 |
| ·基于模拟的错误诊断方法 | 第37-38页 |
| ·错误诊断的符号方法 | 第38-39页 |
| ·提高错误诊断准确性的方法 | 第39-40页 |
| ·含黑盒的设计验证与错误诊断方法 | 第40-41页 |
| ·SOC的设计验证方法学 | 第41-43页 |
| ·系统级验证 | 第42页 |
| ·硬件RTL验证与软件验证 | 第42页 |
| ·网表的验证与物理验证 | 第42-43页 |
| ·层次化设计验证方法 | 第43页 |
| ·加入可测性逻辑后的设计验证 | 第43-45页 |
| ·形式验证中的ATPG引擎 | 第43-44页 |
| ·加入可测性逻辑的设计验证方法 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 布尔函数与基于电路的布尔推理 | 第46-70页 |
| ·布尔函数 | 第46-48页 |
| ·布尔函数的运算 | 第46-47页 |
| ·硬件行为的模拟 | 第47-48页 |
| ·二叉判决图 | 第48-55页 |
| ·有序二叉判决图 | 第48-50页 |
| ·有序二叉判决图的运算 | 第50-51页 |
| ·有序二叉判决图的变量排序 | 第51-52页 |
| ·BDD在形式化验证中的应用 | 第52-55页 |
| ·组合电路的验证 | 第52-53页 |
| ·有限状态机的可达性分析 | 第53-55页 |
| ·布尔可满足性 | 第55-63页 |
| ·布尔可满足性问题 | 第55-57页 |
| ·布尔可满足性问题的算法 | 第57-59页 |
| ·SAT在基于电路的布尔推理中的应用 | 第59-63页 |
| ·基于SAT的测试产生方法 | 第59-60页 |
| ·SAT在等价性检验中的应用 | 第60-61页 |
| ·基于SAT的有界模型检验方法 | 第61-63页 |
| ·静态逻辑蕴涵 | 第63-68页 |
| ·静态逻辑蕴涵的基本概念 | 第63-64页 |
| ·静态逻辑蕴涵的算法 | 第64-66页 |
| ·静态逻辑蕴涵的应用 | 第66-68页 |
| ·用静态逻辑蕴涵增强基于SAT的等价性检验方法 | 第66-67页 |
| ·基于静态学习的验证方法 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第四章 基于电路宽度的布尔推理方法 | 第70-80页 |
| ·问题的提出 | 第70-71页 |
| ·电路宽度与电路复杂性 | 第71-74页 |
| ·电路宽度 | 第71-72页 |
| ·电路宽度与BDD大小的关系 | 第72-73页 |
| ·电路可满足性问题的复杂性 | 第73-74页 |
| ·基于电路宽度的启发式策略 | 第74-76页 |
| ·基于BDD大小估计的启发式策略 | 第74-75页 |
| ·基于电路宽度的启发式策略 | 第75-76页 |
| ·基于电路宽度的启发式策略在ATPG中的应用 | 第76-77页 |
| ·实验结果及其分析 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 基于可满足性的增量等价性检验方法 | 第80-89页 |
| ·引言 | 第80-81页 |
| ·SAT在等价性检验中的应用 | 第81-82页 |
| ·使用局部BCP消除误判 | 第81-82页 |
| ·内部等价性的利用 | 第82页 |
| ·基于可满足性的增量等价性检验方法 | 第82-85页 |
| ·候选等价结点的确定 | 第83-84页 |
| ·内部等价结点以及电路等价性的推导 | 第84-85页 |
| ·实验结果及其分析 | 第85-88页 |
| ·实验数据 | 第86-87页 |
| ·实验结果分析 | 第87-88页 |
| ·本章小结 | 第88-89页 |
| 第六章 验证包含黑盒的电路设计的形式化方法 | 第89-102页 |
| ·集成电路设计中的黑盒问题 | 第89-90页 |
| ·验证包含黑盒的电路设计的常用方法 | 第90-93页 |
| ·基于BDD的方法 | 第90-92页 |
| ·特征函数 | 第90-91页 |
| ·验证包含黑盒的实现 | 第91-92页 |
| ·基于SAT的方法 | 第92-93页 |
| ·结合逻辑模拟与布尔可满足性的验证方法 | 第93-96页 |
| ·基于量化的布尔可满足性验证方法 | 第93-95页 |
| ·逻辑模拟与布尔可满足性算法的结合 | 第95-96页 |
| ·算法的改进 | 第96-98页 |
| ·实验结果及其分析 | 第98-100页 |
| ·含有未知约束的布尔比较 | 第98-99页 |
| ·含有黑盒的设计验证实验 | 第99-100页 |
| ·未知约束的变化对布尔比较性能的影响 | 第100页 |
| ·本章小结 | 第100-102页 |
| 第七章 设计错误诊断的形式化方法 | 第102-115页 |
| ·引言 | 第102-103页 |
| ·错误诊断方法的相关研究 | 第103-109页 |
| ·基于故障模拟的诊断方法 | 第103-106页 |
| ·基于SAT的诊断方法 | 第106-109页 |
| ·基本记号 | 第106页 |
| ·诊断算法 | 第106-108页 |
| ·基于区域模型的错误诊断算法 | 第108-109页 |
| ·结合逻辑模拟与布尔可满足性的错误诊断方法 | 第109-112页 |
| ·算法的基本思想 | 第110页 |
| ·错误诊断方法 | 第110-112页 |
| ·实验结果及其分析 | 第112-114页 |
| ·提高错误诊断算法效率的实验 | 第112-113页 |
| ·错误区域大小对算法性能的影响 | 第113-114页 |
| ·本章小结 | 第114-115页 |
| 第八章 结束语 | 第115-119页 |
| ·本文的主要贡献 | 第115-117页 |
| ·基于电路宽度的布尔推理方法 | 第115页 |
| ·基于可满足性的增量等价性检验方法 | 第115-116页 |
| ·验证包含黑盒的电路设计的方法 | 第116-117页 |
| ·设计错误诊断方法 | 第117页 |
| ·存在的问题与将来的工作 | 第117-119页 |
| 参考文献 | 第119-130页 |
| 发表文章目录 | 第130-132页 |
| 致谢 | 第132-133页 |
| 作者简历 | 第133页 |
