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工艺参数变化情况下纳米尺寸混合信号集成电路性能分析设计自动化方法研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
目录第8-11页
第一章 绪论第11-27页
   ·本论文的研究背景第11-17页
   ·本论文的结构安排及创新点第17-19页
   ·本论文使用方法学的归纳与总结第19-23页
   ·参考文献第23-27页
第二章 工艺参数存在相关性情况下互连线电感统计提取方法第27-43页
   ·简介第27-28页
   ·FASTHENRY 算法回顾第28-29页
   ·互连线统计电感提取算法 STATHENRY第29-34页
     ·对互连线的相关性建模第30页
     ·参数去相关性及参数个数化简第30-33页
     ·采用正交多项式表示提取的电感值第33-34页
     ·对于多重积分的 Smolyak 快速积分算法第34页
   ·实验部分第34-40页
   ·本章小结第40-41页
   ·参考文献第41-43页
第三章 大规模互连线网络符号化统计分析方法第43-99页
   ·互连线统计时序分析问题产生背景第43-47页
     ·基于参数化模型降阶的统计延迟估算第43-45页
     ·基于延迟度量公式的统计延迟估算第45-47页
   ·互连线统计信号完整性问题产生背景第47-49页
     ·互连线间的串扰第48-49页
   ·电路的矩及其应用第49-57页
     ·电路矩的定义第49-51页
     ·电路矩的数值迭代求解第51-55页
     ·基于电路的矩的时延公式第55-57页
   ·符号化模型降价(SMOR)第57-59页
   ·符号化矩计算第59-77页
     ·树状电路符号化矩计算第59-62页
     ·针对耦合电感及电容的拓展第62-65页
     ·针对电阻网络的拓展第65-69页
     ·针对多个输入源的拓展第69-72页
     ·符号化矩的导数计算第72-74页
     ·遍历生成树求解降价模型第74-77页
   ·实验结果第77-93页
     ·针对互连线信号完整性问题进行测试第77-82页
     ·针对分析大规模互连线的时序进行测试第82-89页
     ·与传统符号化计算方法比较第89-93页
   ·本章小结第93页
   ·参考文献第93-99页
第四章 工艺参数存在相关性情况下芯片功耗的统计分析方法第99-122页
   ·引言第99-102页
   ·基于蒙特卡罗的芯片功耗分析算法回顾第102-103页
   ·电路全部功耗统计分析算法第103-111页
     ·针对芯片参数变化建模第104-105页
     ·参数去相关性及参数个数化简第105-107页
     ·采用正交多项式表示全部功耗第107-109页
     ·对于多重积分的 Smolyak 快速积分算法第109页
     ·在随机输入波形下的芯片全部功耗分析算法第109-111页
   ·实验结果第111-119页
   ·本章小结第119页
   ·参考文献第119-122页
第五章 工艺参数变化情况下模拟电路性能变化范围的预测方法第122-142页
   ·简介第122-123页
   ·传统区间算法和仿射区间算法的回顾第123-124页
   ·符号化计算模拟电路频率响应范围算法第124-133页
     ·使用行列式二分决策图进行计算第125-128页
     ·考虑工艺参数变化下的传输函数计算第128-130页
     ·使用 Kharitonov 定理计算系数为区间的多项式的频率响应范围第130-133页
   ·实验结果第133-139页
   ·本章小结第139-140页
   ·参考文献第140-142页
第六章 全文总结第142-145页
   ·主要结论第142-143页
   ·研究展望第143-145页
附录 缩略语第145-146页
攻读博士学位期间已发表或录用的论文第146-148页
攻读博士学位期间参与的科研项目第148-149页
攻读博士学位期间所获奖励第149-150页
致谢第150-154页

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