| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-15页 |
| ·引言 | 第6页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列国内外发展现状 | 第6-9页 |
| ·国外非致冷红外热成像技术的概况 | 第6-8页 |
| ·国内非致冷红外热成像技术研究现状 | 第8-9页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列技术 | 第9-12页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列的应用 | 第9-10页 |
| ·热释电UFPA | 第10-11页 |
| ·微测辐射热计UFPA | 第11-12页 |
| ·非致冷红外探测器面临的困难和问题 | 第12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-15页 |
| 2 非致冷红外焦平面阵列读出电路基础 | 第15-33页 |
| ·读出集成电路的工作模式选择 | 第15-17页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列读出技术 | 第17-18页 |
| ·CMOS读出电路中前置放大器设计方法 | 第18-33页 |
| ·源极跟随器单元电路(SFD) | 第19-20页 |
| ·直接注入单元电路(DI) | 第20-23页 |
| ·缓冲直接注入电路(BDI) | 第23-25页 |
| ·栅调制输入电路(GMI) | 第25-27页 |
| ·栅阴放大器单元电路(CAD) | 第27-28页 |
| ·电容反馈互阻抗放大器单元电路(CTIA) | 第28-31页 |
| ·前置放大器单元电路的比较分析 | 第31-33页 |
| 3 微测辐射热计焦平面阵列CMOS读出电路设计及仿真 | 第33-44页 |
| ·微测辐射热计焦平面阵列CMOS读出电路工作原理 | 第33-36页 |
| ·微测辐射热计焦平面阵列随机存取读出方式 | 第33-34页 |
| ·微测辐射热计焦平面阵列顺序存取读出方式 | 第34-35页 |
| ·两种读出方式的比较分析 | 第35-36页 |
| ·像元结构设计 | 第36-37页 |
| ·移位寄存器电路设计 | 第37-39页 |
| ·电容反馈互阻抗放大器(CTIA) | 第39-40页 |
| ·CMOS读出电路的计算机仿真 | 第40-44页 |
| ·OrCAD/PSpice9仿真软件简介 | 第40-41页 |
| ·CMOS读出电路仿真结果 | 第41-44页 |
| 4 CMOS读出电路中的噪声及其抑制 | 第44-54页 |
| ·读出电路中的噪声 | 第44-48页 |
| ·固定图形噪声 | 第44-45页 |
| ·热噪声 | 第45-46页 |
| ·MOS管的1/f噪声 | 第46页 |
| ·KTC噪声 | 第46-48页 |
| ·噪声的抑制及仿真结果 | 第48-52页 |
| ·相关双取样法 | 第49-51页 |
| ·消除噪声新技术--双复位法 | 第51-52页 |
| ·双复位法计算机仿真实验 | 第52-54页 |
| 5 非致冷红外焦平面阵列非均匀性校正 | 第54-69页 |
| ·红外焦平面阵列非均匀性校正技术 | 第54-56页 |
| ·两点校正法 | 第56-59页 |
| ·红外成像非均匀性的来源 | 第56页 |
| ·两点校正法 | 第56-59页 |
| ·偏置校正法 | 第59-65页 |
| ·偏置校正法的实现原理 | 第59-60页 |
| ·偏置校正法的功能框图 | 第60-64页 |
| ·偏置校正与像元的连接 | 第64-65页 |
| ·偏置校正法与传统两点校正法的比较 | 第65-67页 |
| ·小结 | 第67-69页 |
| 6 总结 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |