锁相环中单粒子瞬变效应的分析与加固
摘要 | 第1-13页 |
Abstract | 第13-16页 |
第一章 绪论 | 第16-34页 |
·课题研究背景 | 第16-18页 |
·课题研究基础 | 第18-21页 |
·锁相环简介 | 第18-19页 |
·SET效应 | 第19-21页 |
·研究层次 | 第21页 |
·相关研究现状 | 第21-29页 |
·历史回顾 | 第21-23页 |
·SET分析 | 第23-24页 |
·SET加固 | 第24-28页 |
·国内研究现状 | 第28-29页 |
·相关研究小结 | 第29页 |
·本文的研究工作 | 第29-31页 |
·论文结构 | 第31-34页 |
第二章 锁相环SET分析模型 | 第34-42页 |
·引言 | 第34页 |
·锁相环系统模型 | 第34-39页 |
·常规系统模型 | 第34-36页 |
·SET分析模型 | 第36-39页 |
·锁相环电路模型 | 第39-41页 |
·基准锁相环结构 | 第39页 |
·部件电路结构 | 第39-40页 |
·环路参数 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第三章 电路级SET分析工具SETA | 第42-60页 |
·引言 | 第42-43页 |
·SETA的分析框架 | 第43-44页 |
·SETA的设计与验证 | 第44-55页 |
·评价体系 | 第44-46页 |
·SET电路模型 | 第46-48页 |
·结点遍历 | 第48-50页 |
·多维模拟条件遍历 | 第50-52页 |
·模拟加速 | 第52-54页 |
·SETA的验证 | 第54-55页 |
·实验结果 | 第55-58页 |
·SET响应的最差情况 | 第55-56页 |
·SET响应的累计分布情况 | 第56-58页 |
·本章小结 | 第58-60页 |
第四章 电荷泵中SET的分析与加固 | 第60-86页 |
·引言 | 第60-61页 |
·SET失效过程 | 第61-62页 |
·SET响应分析 | 第62-73页 |
·时域分析 | 第63-67页 |
·频域分析 | 第67-71页 |
·Hspice实验结果 | 第71-73页 |
·小结 | 第73页 |
·SET加固方法 | 第73-83页 |
·加固电路 | 第73-78页 |
·实验结果 | 第78-83页 |
·与相关工作的比较 | 第83-84页 |
·本章小结 | 第84-86页 |
第五章 压控振荡器中SET的分析与加固 | 第86-108页 |
·引言 | 第86-87页 |
·噪声响应 | 第87-89页 |
·电路结构选择 | 第89-90页 |
·SET响应分析 | 第90-97页 |
·入射能量的影响 | 第92页 |
·轰击结点的影响 | 第92-95页 |
·轰击时刻的影响 | 第95-96页 |
·控制电压/振荡频率的影响 | 第96-97页 |
·小结 | 第97页 |
·SET加固方法 | 第97-105页 |
·失效机理 | 第98-99页 |
·加固电路 | 第99-100页 |
·电路特性 | 第100-101页 |
·设计折衷 | 第101-103页 |
·加固效果 | 第103-105页 |
·与相关工作的比较 | 第105-106页 |
·本章小结 | 第106-108页 |
第六章 SET加固锁相环的实现与评估 | 第108-122页 |
·引言 | 第108页 |
·SET加固锁相环的实现 | 第108-110页 |
·SET加固策略 | 第108-109页 |
·版图设计与芯片实现 | 第109-110页 |
·常规性能评估 | 第110-116页 |
·模拟结果 | 第111页 |
·测试环境设置 | 第111-114页 |
·测试结果 | 第114-116页 |
·SET性能评估 | 第116-121页 |
·量化分析结果 | 第116-120页 |
·辐射试验 | 第120-121页 |
·本章小结 | 第121-122页 |
第七章 结束语 | 第122-125页 |
·研究工作总结 | 第122-123页 |
·研究工作展望 | 第123-125页 |
致谢 | 第125-127页 |
参考文献 | 第127-134页 |
攻读博士学位期间的学术成果 | 第134-137页 |
缩略语说明 | 第137-138页 |