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锁相环中单粒子瞬变效应的分析与加固

摘要第1-13页
Abstract第13-16页
第一章 绪论第16-34页
   ·课题研究背景第16-18页
   ·课题研究基础第18-21页
     ·锁相环简介第18-19页
     ·SET效应第19-21页
     ·研究层次第21页
   ·相关研究现状第21-29页
     ·历史回顾第21-23页
     ·SET分析第23-24页
     ·SET加固第24-28页
     ·国内研究现状第28-29页
     ·相关研究小结第29页
   ·本文的研究工作第29-31页
   ·论文结构第31-34页
第二章 锁相环SET分析模型第34-42页
   ·引言第34页
   ·锁相环系统模型第34-39页
     ·常规系统模型第34-36页
     ·SET分析模型第36-39页
   ·锁相环电路模型第39-41页
     ·基准锁相环结构第39页
     ·部件电路结构第39-40页
     ·环路参数第40-41页
   ·本章小结第41-42页
第三章 电路级SET分析工具SETA第42-60页
   ·引言第42-43页
   ·SETA的分析框架第43-44页
   ·SETA的设计与验证第44-55页
     ·评价体系第44-46页
     ·SET电路模型第46-48页
     ·结点遍历第48-50页
     ·多维模拟条件遍历第50-52页
     ·模拟加速第52-54页
     ·SETA的验证第54-55页
   ·实验结果第55-58页
     ·SET响应的最差情况第55-56页
     ·SET响应的累计分布情况第56-58页
   ·本章小结第58-60页
第四章 电荷泵中SET的分析与加固第60-86页
   ·引言第60-61页
   ·SET失效过程第61-62页
   ·SET响应分析第62-73页
     ·时域分析第63-67页
     ·频域分析第67-71页
     ·Hspice实验结果第71-73页
     ·小结第73页
   ·SET加固方法第73-83页
     ·加固电路第73-78页
     ·实验结果第78-83页
   ·与相关工作的比较第83-84页
   ·本章小结第84-86页
第五章 压控振荡器中SET的分析与加固第86-108页
   ·引言第86-87页
   ·噪声响应第87-89页
   ·电路结构选择第89-90页
   ·SET响应分析第90-97页
     ·入射能量的影响第92页
     ·轰击结点的影响第92-95页
     ·轰击时刻的影响第95-96页
     ·控制电压/振荡频率的影响第96-97页
     ·小结第97页
   ·SET加固方法第97-105页
     ·失效机理第98-99页
     ·加固电路第99-100页
     ·电路特性第100-101页
     ·设计折衷第101-103页
     ·加固效果第103-105页
   ·与相关工作的比较第105-106页
   ·本章小结第106-108页
第六章 SET加固锁相环的实现与评估第108-122页
   ·引言第108页
   ·SET加固锁相环的实现第108-110页
     ·SET加固策略第108-109页
     ·版图设计与芯片实现第109-110页
   ·常规性能评估第110-116页
     ·模拟结果第111页
     ·测试环境设置第111-114页
     ·测试结果第114-116页
   ·SET性能评估第116-121页
     ·量化分析结果第116-120页
     ·辐射试验第120-121页
   ·本章小结第121-122页
第七章 结束语第122-125页
   ·研究工作总结第122-123页
   ·研究工作展望第123-125页
致谢第125-127页
参考文献第127-134页
攻读博士学位期间的学术成果第134-137页
缩略语说明第137-138页

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