| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 引言 | 第8-14页 |
| 第一部分 不同LET辐射对质粒DNA的损伤效应 | 第14-29页 |
| 材料与方法 | 第15-20页 |
| 实验结果与讨论 | 第20-28页 |
| 结论 | 第28-29页 |
| 第二部分 香兰素衍生物VND3207对质粒DNA受不同LET辐射损伤的防护作用 | 第29-36页 |
| 材料与方法 | 第30-31页 |
| 结果 | 第31-34页 |
| 讨论 | 第34-36页 |
| 第三部分 细胞水平上γ辐射致基因组DNA集簇性损伤的检测技术的初步探索 | 第36-49页 |
| 实验材料 | 第36-37页 |
| 实验方法 | 第37-43页 |
| 结果 | 第43-47页 |
| 讨论 | 第47-49页 |
| 总结 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-59页 |
| 缩略词表 | 第59-60页 |
| 已发文章 | 第60-71页 |
| 个人简历 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |