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高压瓷质绝缘子红外检测盲区及诊断策略研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-15页
    1.1 研究背景与意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-12页
    1.3 课题来源第12-13页
    1.4 本文主要研究内容及创新点第13-15页
        1.4.1 主要研究内容第13页
        1.4.2 本文主要创新点第13-15页
第2章 瓷质绝缘子红外热像检测基本原理第15-25页
    2.1 瓷质绝缘子发热模型第15-17页
        2.1.1 瓷质绝缘子劣化原因分析第15页
        2.1.2 瓷质绝缘子发热模型第15-17页
    2.2 红外热像检测绝缘子故障原理第17-22页
        2.2.1 红外热像故障检测基本原理第17-18页
        2.2.2 红外热像设备第18-21页
        2.2.3 红外热像检测影响因素第21-22页
    2.3 现场应用中存在问题第22-24页
        2.3.1 原有检测方法简介第22-23页
        2.3.2 现场应用情况分析第23-24页
    2.4 本章小结第24-25页
第3章 瓷质绝缘子红外检测盲区研究第25-46页
    3.1 瓷质绝缘子盲区概述第25-26页
    3.2 瓷质绝缘子电压分布规律研究第26-31页
        3.2.1 绝缘子串电压分布计算第26-28页
        3.2.2 绝缘子串电压分布分析第28-31页
    3.3 瓷质绝缘子红外盲区研究与分析第31-44页
        3.3.1 绝缘子发热分析第31-32页
        3.3.2 绝缘子红外检测盲区计算方法第32-33页
        3.3.3 红外检测盲区分析第33-36页
        3.3.4 220kV绝缘子串红外检测盲区分布规律第36-44页
    3.4 瓷质绝缘子红外检测盲区现场减小措施第44-45页
    3.5 本章小结第45-46页
第4章 红外检测盲区劣化绝缘子诊断策略研究第46-67页
    4.1 诊断策略的提出第46-48页
    4.2 盲区绝缘子电压分布及发热实验研究第48-64页
        4.2.1 实验装置及方案第48-51页
        4.2.2 劣化绝缘子电压分布变化规律研究第51-54页
        4.2.3 劣化绝缘子温升特征变化研究第54-64页
    4.3 基于盘面+钢帽特征的劣化绝缘子诊断策略第64-66页
        4.3.1 实测红外检测盲区分布第64页
        4.3.2 基于单一钢帽特征的检测方法存在问题第64-65页
        4.3.3 基于盘面+钢帽劣化特征的新型检测方法第65-66页
    4.4 本章小结第66-67页
第5章 诊断策略在实际检测中的应用第67-73页
    5.1 系统技术基础第67-68页
        5.1.1 图像处理技术第67-68页
        5.1.2 基于BP神经网络的智能识别技术第68页
    5.2 基于新型诊断策略的智能检测系统开发第68-69页
        5.2.1 系统开发目标第68-69页
        5.2.2 系统运行环境要求第69页
    5.3 系统运行界面展示第69-71页
    5.4 现场应用情况第71-72页
    5.5 本章小结第72-73页
总结与展望第73-75页
    总结第73-74页
    展望第74-75页
参考文献第75-81页
致谢第81-82页
附录 A 攻读学位期间获奖及所发表的主要学术论文目录第82-83页
附录 B 攻读学位期间所参加的科研项目目录第83页

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