| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 阵列光栅空间共面研究的发展与现状 | 第9-14页 |
| 1.2.1 国外的发展与现状 | 第9-12页 |
| 1.2.2 国内的发展与现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 2 阵列光栅空间共面原理研究 | 第15-23页 |
| 2.1 阵列光栅拼接模型分析 | 第15-19页 |
| 2.1.1 阵列光栅拼接与空间共面的关系 | 第15-16页 |
| 2.1.2 阵列光栅共面位姿对输出激光脉冲的影响研究 | 第16-19页 |
| 2.2 阵列光栅空间共面模型研究 | 第19-22页 |
| 2.2.1 有界平面共面的数学模型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 阵列光栅空间共面的数学模型 | 第20-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 阵列光栅共面在位检测方法设计与分析 | 第23-35页 |
| 3.1 共面在位检测方法概述 | 第23-24页 |
| 3.2 阵列光栅共面在位检测方法设计 | 第24-29页 |
| 3.2.1 基准的选择与坐标系定义 | 第24-25页 |
| 3.2.2 测点的布局与配置 | 第25页 |
| 3.2.3 单块子光栅共面在位检测的数学模型 | 第25-28页 |
| 3.2.4 多块子光栅共面在位检测的数学模型 | 第28-29页 |
| 3.3 在位检测方法的误差分析 | 第29-33页 |
| 3.3.1 测量误差的构成 | 第29-30页 |
| 3.3.2 测量误差的传递 | 第30-31页 |
| 3.3.3 测量不确定性的抑制 | 第31-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-35页 |
| 4 阵列光栅共面驱动校正与控制技术研究 | 第35-49页 |
| 4.1 共面驱动校正方法设计 | 第35-38页 |
| 4.1.1 阵列光栅共面驱动校正方案 | 第35-37页 |
| 4.1.2 阵列光栅共面驱动校正的数学模型 | 第37-38页 |
| 4.2 共面驱动校正方法的误差分析 | 第38-40页 |
| 4.3 共面驱动校正方法的控制技术研究 | 第40-48页 |
| 4.3.1 共面驱动校正方法的闭环设计 | 第41页 |
| 4.3.2 共面驱动校正方法的控制算法研究 | 第41-46页 |
| 4.3.3 共面驱动校正方法的控制系统仿真 | 第46-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 阵列光栅共面在位检测与驱动校正实验 | 第49-58页 |
| 5.1 实验系统组成 | 第49-53页 |
| 5.2 阵列光栅共面在位检测性能测试 | 第53-55页 |
| 5.2.1 实验原理 | 第53-54页 |
| 5.2.2 实验结果处理与分析 | 第54-55页 |
| 5.3 阵列光栅共面驱动校正性能测试 | 第55-57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 6 结论与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 结论 | 第58页 |
| 6.2 展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 附录 A. 作者在攻读研究生期间发表的论文目录 | 第65页 |