| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 硅橡胶材料陷阱特性的研究现状 | 第12页 |
| 1.2.2 复合绝缘子沿面闪络特性的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 存在的问题 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 试验装置及其测试方法 | 第16-27页 |
| 2.1 热刺激电流（TSC）试验系统 | 第16-18页 |
| 2.1.1 介质陷阱的测量方法 | 第16页 |
| 2.1.2 系统简介 | 第16-18页 |
| 2.2 沿面闪络试验系统 | 第18-25页 |
| 2.2.1 直流电压源 | 第18-19页 |
| 2.2.2 电极形式 | 第19页 |
| 2.2.3 闪络电压和电流的测量 | 第19-20页 |
| 2.2.4 表面电荷测量装置的设计与校验 | 第20-25页 |
| 2.3 试验用试样的制备 | 第25-26页 |
| 2.4 试验测量方法 | 第26页 |
| 2.5 小结 | 第26-27页 |
| 第3章 硅橡胶材料的陷阱能级特性 | 第27-36页 |
| 3.1 介质材料的陷阱特性 | 第27页 |
| 3.2 TSC介质陷阱的计算方法 | 第27-29页 |
| 3.3 老化时间对硅橡胶陷阱能级的影响 | 第29-32页 |
| 3.4 现场运行硅橡胶绝缘子的热刺激电流测试 | 第32-35页 |
| 3.4.1 现场运行复合绝缘子试样的选取方法 | 第32-33页 |
| 3.4.2 现场运行复合绝缘子的陷阱特性 | 第33-35页 |
| 3.5 小结 | 第35-36页 |
| 第4章 电晕老化硅橡胶试样的沿面闪络特性 | 第36-48页 |
| 4.1 电晕老化后试样憎水性随放置时间的变化 | 第36-37页 |
| 4.2 随加压的变化硅橡胶试样表面电荷的分布 | 第37-42页 |
| 4.3 老化时间对硅橡胶试样闪络特性的影响 | 第42-46页 |
| 4.4 现场运行硅橡胶复合绝缘子沿面闪络试验 | 第46-47页 |
| 4.5 小结 | 第47-48页 |
| 第5章 硅橡胶的陷阱对其闪络特性的影响 | 第48-60页 |
| 5.1 傅立叶变换红外光谱分析 | 第48-50页 |
| 5.1.1 试验使用仪器 | 第48页 |
| 5.1.2 红外光谱分析方法 | 第48-49页 |
| 5.1.3 不同电晕老化时间试样的红外光谱分析 | 第49-50页 |
| 5.2 SEM测试分析 | 第50-51页 |
| 5.3 表面电荷分布与沿面闪络特性的内在联系 | 第51-52页 |
| 5.4 试样的陷阱深度与沿面闪络特性的内在联系 | 第52-53页 |
| 5.5 现场运行的硅橡胶复合绝缘子的陷阱与闪络电压的关系 | 第53-59页 |
| 5.6 小结 | 第59-60页 |
| 第6章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 6.1 结论 | 第60-61页 |
| 6.2 展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及其它成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |