γ射线高度计高精度测距算法及系统实现研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外发展概况及发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.2.1 国外现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内现状 | 第11页 |
| 1.2.3 发展趋势分析 | 第11页 |
| 1.3 关键技术 | 第11-12页 |
| 1.4 本文内容安排 | 第12-13页 |
| 第二章 γ 射线物理特性及测距原理 | 第13-21页 |
| 2.1 Γ 射线物理特性 | 第13-18页 |
| 2.1.1 γ 射线与物质的相互作用 | 第13-16页 |
| 2.1.2 γ 射线束的吸收 | 第16页 |
| 2.1.3 γ 射线反散射理论 | 第16-18页 |
| 2.2 Γ 射线测距原理 | 第18-20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 γ 射线高度频率特性及影响分析 | 第21-37页 |
| 3.1 Γ 射线高度计简介 | 第21-22页 |
| 3.2 Γ 射线的高度频率特性 | 第22-23页 |
| 3.3 月面环境影响分析 | 第23-26页 |
| 3.4 蒙特卡罗方法介绍 | 第26-32页 |
| 3.4.1 蒙特卡罗方法的基本思想 | 第26-28页 |
| 3.4.2 仿真平台的建立 | 第28-32页 |
| 3.5 仿真结果与分析 | 第32-36页 |
| 3.5.1 水平距离与垂直距离 | 第32-33页 |
| 3.5.2 NaI和CsI闪烁体的比较 | 第33页 |
| 3.5.3 屏蔽壳的比较 | 第33-34页 |
| 3.5.4 倾斜工况 | 第34-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 数字化 γ 射线高度计的设计 | 第37-55页 |
| 4.1 高精度数字化 Γ 射线高度计系统组成 | 第37-38页 |
| 4.2 高精度 Γ 测距算法 | 第38-43页 |
| 4.2.1 传统的 γ 测距方法 | 第40-41页 |
| 4.2.2 改进的高精度 γ 测距方法 | 第41-43页 |
| 4.3 软件算法设计 | 第43-48页 |
| 4.3.1 高度频率曲线拟合 | 第43-44页 |
| 4.3.2 测高算法的FPGA设计 | 第44-48页 |
| 4.4 信号处理电路设计 | 第48-53页 |
| 4.4.1 主要元器件选用 | 第48-50页 |
| 4.4.2 信号处理电路功耗分析 | 第50-52页 |
| 4.4.3 印制电路板设计 | 第52-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 动态模拟器的设计 | 第55-72页 |
| 5.1 动态模拟器的组成 | 第55页 |
| 5.2 动态模拟器的技术指标 | 第55-56页 |
| 5.3 基于DDS技术的动态频率合成技术 | 第56-62页 |
| 5.3.1 DDS基本工作原理 | 第56-57页 |
| 5.3.2 DDS输出频率信号的精度分析 | 第57-59页 |
| 5.3.3 DDS位数、参考时钟频率的确定 | 第59-60页 |
| 5.3.4 速度模拟精度的分析 | 第60-62页 |
| 5.3.5 速度计数器位数的确定 | 第62页 |
| 5.4 动态模拟器的硬件电路设计 | 第62-65页 |
| 5.4.1 信号调理单元设计 | 第63页 |
| 5.4.2 PCI接.电路 | 第63页 |
| 5.4.3 FPGA以及外围电路 | 第63-64页 |
| 5.4.4 存储器电路 | 第64-65页 |
| 5.5 动态模拟器的FPGA逻辑设计 | 第65-67页 |
| 5.5.1 PCI本地接.电路时序设计 | 第65页 |
| 5.5.2 动态频率合成的实现 | 第65-66页 |
| 5.5.3 脉冲宽度实现 | 第66-67页 |
| 5.6 动态模拟器应用程序设计 | 第67-69页 |
| 5.7 动态模拟器频率精度指标测试 | 第69-71页 |
| 5.8 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 实验验证及数据分析 | 第72-79页 |
| 第七章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
