| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略语对照表 | 第11-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-17页 |
| 1.2 研究现状及发展趋势 | 第17-19页 |
| 1.2.1 仿真验证 | 第18页 |
| 1.2.2 形式验证 | 第18-19页 |
| 1.2.3 FPGA验证 | 第19页 |
| 1.3 论文的研究内容和组织结构 | 第19-22页 |
| 第二章 通信SOC基带芯片系统验证平台的介绍 | 第22-38页 |
| 2.1 验证平台的简介 | 第22-23页 |
| 2.1.1 验证平台的作用 | 第22页 |
| 2.1.2 验证平台的基本结构 | 第22-23页 |
| 2.2 系统级验证平台的原理和功能 | 第23-28页 |
| 2.2.1 SystemVerilog语言特点 | 第23-25页 |
| 2.2.2 系统级验证平台的工作原理 | 第25页 |
| 2.2.3 系统级验证平台的组件和功能 | 第25-28页 |
| 2.3 系统级验证平台的组成部分 | 第28-34页 |
| 2.3.1 信息总线（Message Bus） | 第28-29页 |
| 2.3.2 外围总线桥（BBS_EXT） | 第29-30页 |
| 2.3.3 命令文件阅读器（CFR, Command File Reader） | 第30-31页 |
| 2.3.4 信息日志（LOG, Message Logger） | 第31-32页 |
| 2.3.5 时钟/复位产生器（Clock/Reset Generator） | 第32-33页 |
| 2.3.6 外部存储器（MEM_EXT） | 第33页 |
| 2.3.7 本地存储器（MEM_LM） | 第33页 |
| 2.3.8 I/O控制器（IOC, I/O Controller） | 第33-34页 |
| 2.4 系统级验证平台的实例分析 | 第34-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 现有验证平台的需求分析和优化设计方法 | 第38-46页 |
| 3.1 现有验证平台的需求分析 | 第38-40页 |
| 3.1.1 BOOT时间损耗 | 第38-39页 |
| 3.1.2 对无核系统的处理 | 第39-40页 |
| 3.2 SVTB的优化目标 | 第40-41页 |
| 3.3 UTB的设计方法 | 第41-44页 |
| 3.3.1 软/硬件协同验证技术 | 第41-42页 |
| 3.3.2 UTB设计方法 | 第42-44页 |
| 3.4 对门级仿真的说明 | 第44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 虚拟CPU--CRUNNER的设计 | 第46-64页 |
| 4.1 SystemVerilog与C语言的接.--DPI技术 | 第46-48页 |
| 4.1.1 PLI简介 | 第46-47页 |
| 4.1.2 DPI的技术方法 | 第47-48页 |
| 4.2 cRunner原理介绍 | 第48-50页 |
| 4.3 CPU在测试用例中的功能分析 | 第50-51页 |
| 4.4 cRunner功能的实现 | 第51-62页 |
| 4.4.1 寄存器和存储器的访问 | 第51-55页 |
| 4.4.2 等待和延迟时间的处理 | 第55-56页 |
| 4.4.3 打印信息的处理 | 第56-58页 |
| 4.4.4 中断的实现 | 第58-62页 |
| 4.5 其他技术 | 第62-63页 |
| 4.5.1 复位行为的模拟 | 第62-63页 |
| 4.5.2 后台脚本对测试用例调整的说明 | 第63页 |
| 4.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 OCP总线功能模型的设计 | 第64-80页 |
| 5.1 OCP协议介绍 | 第64-65页 |
| 5.1.1 简介 | 第64-65页 |
| 5.1.2 基于OCP的片上系统 | 第65页 |
| 5.2 总线功能模型介绍 | 第65-66页 |
| 5.3 UVM介绍 | 第66-69页 |
| 5.3.1 UVM简介 | 第66-67页 |
| 5.3.2 UVM类的层次关系 | 第67-68页 |
| 5.3.3 UVM的组织结构 | 第68-69页 |
| 5.4 OCP总线功能模型的设计 | 第69-79页 |
| 5.4.1 OCP的工作模式 | 第69页 |
| 5.4.2 OCP总线功能模型的设计 | 第69-79页 |
| 5.5 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 验证过程与结果分析 | 第80-90页 |
| 6.1 验证情景描述 | 第80-83页 |
| 6.2 系统级验证仿真结果的分析 | 第83-86页 |
| 6.2.1 对AHB验证功能的分析 | 第83页 |
| 6.2.2 对I2C验证功能的分析 | 第83-84页 |
| 6.2.3 对仿真时间的分析 | 第84-86页 |
| 6.3 门级验证仿真结果的分析 | 第86-88页 |
| 6.4 本章小结 | 第88-90页 |
| 第七章 总结和展望 | 第90-92页 |
| 7.1 总结 | 第90页 |
| 7.2 展望 | 第90-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94-96页 |
| 作者简介 | 第96-97页 |
