CCD芯片量子效率和非均匀性参数测量
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第16-17页 |
| 1.2 课题国内外研究现状 | 第17-19页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 第二章 CCD芯片及其性能参数 | 第20-26页 |
| 2.1 CCD的市场应用发展 | 第20-21页 |
| 2.2 CCD成像器件关键性能参数简介 | 第21-22页 |
| 2.3 测量标准简介 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 量子效率与非均匀性测量实验设计 | 第26-48页 |
| 3.1 系统模块的组成与连接 | 第26-44页 |
| 3.1.1 氙灯光源 | 第27-28页 |
| 3.1.2 单色仪 | 第28-31页 |
| 3.1.3 积分球复色光源 | 第31-35页 |
| 3.1.4 暗室与电控位移台 | 第35-37页 |
| 3.1.5 探测模块 | 第37-39页 |
| 3.1.6 CCD驱动电路和USB通信电路 | 第39-42页 |
| 3.1.7 上位机软件 | 第42-44页 |
| 3.1.8 主控计算机 | 第44页 |
| 3.2 系统设计的科学性分析 | 第44-47页 |
| 3.2.1 光源设计 | 第44-46页 |
| 3.2.2 标准替代法实验 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 量子效率与非均匀性测量方法 | 第48-56页 |
| 4.1 测量流程 | 第48-49页 |
| 4.2 量子效率的测量方法 | 第49-51页 |
| 4.3 非均匀性的测量方法 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 量子效率与非均匀性测量实验及分析 | 第56-72页 |
| 5.1 量子效率测量实验 | 第56-66页 |
| 5.2 非均匀性测量实验 | 第66-70页 |
| 5.3 实验成果及意义 | 第70-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-76页 |
| 6.1 已做工作总结 | 第72-73页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第73-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 作者简介 | 第80-82页 |
| 附录 | 第82-83页 |
