MLC NAND闪存失效模式的测试与分析
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-22页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.2 固态硬盘的工作原理 | 第9-17页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第17-20页 |
| 1.4 课题来源与研究意义 | 第20页 |
| 1.5 论文研究内容和组织结构 | 第20-22页 |
| 2 闪存的读写机制与失效分析 | 第22-33页 |
| 2.1 NAND闪存的存储单元 | 第22-23页 |
| 2.2 闪存的基本操作机制 | 第23-26页 |
| 2.3 闪存失效分析 | 第26-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 硬件平台RamSSD的设计与实现 | 第33-38页 |
| 3.1 硬件平台RamSSD | 第33-35页 |
| 3.2 RamSSD的访问接口 | 第35-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 4 实验方案的设计与实现 | 第38-50页 |
| 4.1 实验测试系统 | 第38-47页 |
| 4.2 测试方案 | 第47-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 5 实验结果与分析 | 第50-57页 |
| 5.1 写干扰错误 | 第50-53页 |
| 5.2 LSB页和MSB页的写入错误 | 第53-55页 |
| 5.3 读干扰错误 | 第55-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 6 总结与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
