| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 RFID测试技术研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.2 虚拟仪器技术现状 | 第14-15页 |
| 1.3 论文开展的主要工作 | 第15-17页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 高频频段的RFID工作原理 | 第18-26页 |
| 2.1 高频频段RFID系统框架 | 第18-20页 |
| 2.2 电感耦合 | 第20-23页 |
| 2.2.1 电感耦合原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 电感耦合能量传输 | 第21-23页 |
| 2.3 标签的副载波负载调制技术 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 高频频段ISO 14443B协议研究 | 第26-44页 |
| 3.1 物理层参数及关键技术 | 第26-29页 |
| 3.1.1 读写器到标签的通信链路 | 第26-27页 |
| 3.1.2 标签到读写器的通信链路 | 第27-29页 |
| 3.2 数据链路层参数及关键技术 | 第29-42页 |
| 3.2.1 组帧格式 | 第29-30页 |
| 3.2.2 时序 | 第30-31页 |
| 3.2.3 CRC校验 | 第31-32页 |
| 3.2.4 标签的状态转移 | 第32-34页 |
| 3.2.5 命令集及标签响应 | 第34-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-44页 |
| 第四章 ISO 14443B测试系统架构及物理层和数据链路层的实现 | 第44-68页 |
| 4.1 测试系统的整体架构 | 第44-48页 |
| 4.1.1 测试系统的硬件架构 | 第44-46页 |
| 4.1.2 测试系统的软件架构 | 第46-47页 |
| 4.1.3 LabVIEW FPGA模块 | 第47-48页 |
| 4.2 发射模块设计与实现 | 第48-55页 |
| 4.2.1 发送信息编码模块 | 第48-54页 |
| 4.2.2 I/Q数据交织发射模块 | 第54-55页 |
| 4.3 接收模块设计与实现 | 第55-64页 |
| 4.3.1 AD前端接收模块 | 第55-56页 |
| 4.3.2 接收信息解码模块 | 第56-64页 |
| 4.4 数据链路层模块设计与实现 | 第64-67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 ISO 14443B测试系统的研究与实现 | 第68-90页 |
| 5.1 ISO 14443B测试系统 | 第68-69页 |
| 5.1.1 实际测试系统 | 第68-69页 |
| 5.1.2 第二代居民身份证 | 第69页 |
| 5.2 仪器驱动模块 | 第69-72页 |
| 5.2.1 中频收发器驱动配置 | 第69-70页 |
| 5.2.2 上变频模块驱动配置 | 第70-71页 |
| 5.2.3 下变频模块驱动配置 | 第71-72页 |
| 5.3 数据交互模块 | 第72-73页 |
| 5.3.1 协议参数配置模块 | 第72-73页 |
| 5.3.2 发送接收模块 | 第73页 |
| 5.4 一致性测试模块 | 第73-85页 |
| 5.4.1 整体波形测试 | 第73-75页 |
| 5.4.2 发送/接收信号测试 | 第75-80页 |
| 5.4.3 脉冲分析测试 | 第80-82页 |
| 5.4.4 协议解析 | 第82-84页 |
| 5.4.5 连续发送测试 | 第84-85页 |
| 5.5 性能测试模块 | 第85-88页 |
| 5.5.1 标签扫频测试 | 第85-86页 |
| 5.5.2 标签最小触发功率测试 | 第86-88页 |
| 5.6 本章小结 | 第88-90页 |
| 第六章 总结与展望 | 第90-92页 |
| 致谢 | 第92-94页 |
| 参考文献 | 第94-102页 |
| 攻读硕士期间发表的论文和科研成果 | 第102页 |