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HINOC2.0 SoC系统HIMAC协处理器的仿真及FPGA验证

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-17页
第一章 绪论第17-19页
    1.1 研究背景第17页
    1.2 国内外同轴接入技术现状第17-18页
    1.3 本文的主要工作和安排第18-19页
第二章 HINOC 2.0 系统介绍第19-35页
    2.1 HINOC 2.0 技术发展概述及现状第19页
    2.2 HINOC2.0 SoC系统简介第19-25页
        2.2.1 SoC系统整体结构第19-20页
        2.2.2 HINOC功能划分第20-21页
        2.2.3 HINOC协议帧类型第21-24页
        2.2.4 HINOC系统网络结构第24-25页
    2.3 HIMAC处理器结构及功能第25-26页
    2.4 HIMAC模块的主要接口第26-31页
        2.4.1 HIMAC与HIPHY之间接口第26-29页
        2.4.2 HIMAC与CPU总线接口第29-31页
    2.5 HIMAC系统功能优化第31-35页
        2.5.1 流分类功能优化第31-32页
        2.5.2 QOS优先级优化第32页
        2.5.3 CRC检测、重校验功能第32-35页
第三章 HINOC 2.0 SoC系统仿真验证第35-47页
    3.1 需求分析第35页
    3.2 仿真平台介绍第35-36页
    3.3 仿真系统处理流程第36-37页
    3.4 HIMAC各功能仿真及结果分析第37-45页
        3.4.1 寄存器RAM读写仿真验证第37-38页
        3.4.2 组帧拆帧功能仿真验证第38-39页
        3.4.3 流分类功能仿真验证第39-42页
        3.4.4 插入数据功能仿真验证第42页
        3.4.5 捕获功能仿真验证第42-43页
        3.4.6 转发表及单播功能仿真验证第43-44页
        3.4.7 组播功能仿真验证第44-45页
        3.4.8 流控功能仿真验证第45页
    3.5 仿真中应注意的问题第45-47页
        3.5.1 RAM替换过程中遇到的问题第45页
        3.5.2 后仿时出现不定态的原因及解决办法第45-46页
        3.5.3 加快后仿真的方法第46-47页
第四章 HINOC 2.0 SoC系统FPGA验证第47-79页
    4.1 HINOC硬件验证平台介绍第47-48页
    4.2 SoC系统工作流程第48-51页
        4.2.1 HINOC系统启动过程第48-49页
        4.2.2 HIMAC主要工作流程第49-51页
    4.3 FPGA调试方法第51-57页
        4.3.1 借助CPU读写寄存器、RAM调试第51-55页
        4.3.2 signaltap逻辑分析仪的使用第55页
        4.3.3 调试方法总结第55-57页
    4.4 时序问题分析第57-73页
        4.4.1 GMII接口第57-58页
        4.4.2 GMII时序问题描述第58-59页
        4.4.3 时序约束基础第59-64页
        4.4.4 SoC系统的时序接口及约束第64-68页
        4.4.5 Quartus的逻辑分区约束第68-70页
        4.4.6 内部寄存器到寄存器时序问题第70-73页
    4.5 低信噪比条件下系统稳定性测试第73-76页
        4.5.1 低信噪比下问题描述第73-74页
        4.5.2 低信噪比下himac保护措施第74-76页
    4.6 HINOC系统性能测试第76-79页
        4.6.1 测试环境第76页
        4.6.2 测试结果分析第76-79页
第五章 HINOC2.0 基带芯片测试第79-91页
    5.1 基带芯片及测试样机介绍第79-81页
    5.2 吞吐量及时延分析第81-82页
        5.2.1 测试说明第81页
        5.2.2 测试结果第81-82页
    5.3 业务测试第82-91页
        5.3.1 4K及高清视频验证第82-84页
        5.3.2 组播功能验证第84-85页
        5.3.3 MAC地址数限制第85-86页
        5.3.4 广播包/未知包抑制功能第86-89页
        5.3.5 其它业务测试第89-91页
第六章 经验总结和展望第91-97页
    6.1 多个HM之间数据互相串扰问题第91页
    6.2 拆帧缓存溢出问题第91-92页
    6.3 做芯片设计时应注意到的问题第92-94页
        6.3.1 寄存器、RAM初始化问题第92页
        6.3.2 RAM读写冲突问题第92页
        6.3.3 复位信号产生问题第92-93页
        6.3.4 模块划分问题第93页
        6.3.5 wire型信号传递问题第93-94页
        6.3.6 代码规范化问题第94页
    6.4 HINOC系统应用分析第94-97页
        6.4.1 宽带接入网第94-95页
        6.4.2 家庭网络第95页
        6.4.3 智能监控网络第95-97页
参考文献第97-99页
致谢第99-101页
作者简介第101-102页

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