低能X射线探测与成像新系统
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| ·工业X-CT 技术发展概况 | 第9-10页 |
| ·论文研究背景 | 第10-11页 |
| ·论文主要研究内容 | 第11-12页 |
| ·论文的内容安排 | 第12-13页 |
| 2 工业 X-CT 系统 | 第13-31页 |
| ·工业X-CT 系统描述 | 第13-18页 |
| ·工业CT 的基本原理 | 第13-14页 |
| ·工业CT 扫描检测模式 | 第14-17页 |
| ·工业X-CT 系统组成 | 第17-18页 |
| ·工业X-CT 探测器 | 第18-31页 |
| ·工业X-CT 探测器分类 | 第18-20页 |
| ·X 射线线阵探测器 | 第20-23页 |
| ·X 射线CCD 探测器 | 第23-28页 |
| ·X 射线探测器比较 | 第28-31页 |
| 3 CCD 应用基础 | 第31-39页 |
| ·CCD 工作原理 | 第31-32页 |
| ·CCD 的分类 | 第32-34页 |
| ·CCD 信号读出方式 | 第34-35页 |
| ·CCD 的特性参数 | 第35-36页 |
| ·CCD 不均匀性及其校准 | 第36-38页 |
| ·CCD 的选择 | 第38-39页 |
| 4 方案提出及比较 | 第39-49页 |
| ·方案一：线阵探测器+开关积分放大器 | 第39-45页 |
| ·系统结构 | 第39页 |
| ·线阵探测器 | 第39-40页 |
| ·AD 转换及信号处理 | 第40-43页 |
| ·FPGA 控制电路 | 第43-45页 |
| ·方案二：CCD 探测器+ADC | 第45-47页 |
| ·系统结构 | 第45页 |
| ·线阵CCD | 第45-46页 |
| ·信号放大 | 第46页 |
| ·A/D 转换 | 第46页 |
| ·FPGA 控制电路 | 第46-47页 |
| ·方案比较 | 第47-49页 |
| 5 方案硬件设计 | 第49-65页 |
| ·系统组成 | 第49页 |
| ·各部分具体设计 | 第49-62页 |
| ·线阵CCD 选择 | 第49-51页 |
| ·CCD 驱动电路设计 | 第51-52页 |
| ·CCD 放大电路设计 | 第52-53页 |
| ·CCD 滤波电路设计 | 第53-57页 |
| ·AD 转换电路设计 | 第57-58页 |
| ·FPGA 控制电路设计 | 第58-61页 |
| ·接口协议设计 | 第61-62页 |
| ·PCB 制作 | 第62-65页 |
| 6 方案软件设计 | 第65-75页 |
| ·ALTERA 开发平台QUARTUS Ⅱ | 第65-66页 |
| ·系统功能模块 | 第66-67页 |
| ·系统工作时序 | 第67-68页 |
| ·CCD 控制软件设计 | 第68-71页 |
| ·AD 控制软件设计 | 第71-75页 |
| 7 调试分析及结论 | 第75-83页 |
| 8 总结及展望 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 附录：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第89-90页 |
| 附图 | 第90-91页 |
