| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 系统级芯片测试概述 | 第9-15页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-12页 |
| ·混合信号系统测试的现状 | 第12-13页 |
| ·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 系统级芯片可测性分析及其系统建模 | 第15-24页 |
| ·集成电路测试的基本概念 | 第15-18页 |
| ·混合信号系统建模与故障仿真 | 第18-23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 第3章 系统级芯片的可测性设计方法 | 第24-37页 |
| ·可测性设计(DFT) | 第24页 |
| ·AD-HOC 专用测试方法 | 第24-25页 |
| ·边界扫描测试 | 第25-29页 |
| ·扫描可测性方法 | 第29-31页 |
| ·内置自测试方法（BIST） | 第31-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第4章 混合信号SOC 的可测性设计 | 第37-56页 |
| ·混合信号测试的方法及其行为功能 | 第37-38页 |
| ·模拟测试总线的可测性设计 | 第38-40页 |
| ·SIGMA-DELTAA/D 转换器的BIST 设计 | 第40-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第5章 SOC 测试核的研究及集成电路测试仪的研制 | 第56-64页 |
| ·面向复用的IP 核测试结构 | 第56-60页 |
| ·集成电路测试仪的设计与研发 | 第60-63页 |
| ·小结 | 第63-64页 |
| 结论及展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |