| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·集成电路测试技术发展概述 | 第11-12页 |
| ·研究背景及意义 | 第12-13页 |
| ·本文主要工作 | 第13页 |
| ·本文组织结构 | 第13-15页 |
| 第2章 数字电路测试基本理论和方法 | 第15-29页 |
| ·电路测试的一些基本理论 | 第15-20页 |
| ·集成电路测试的经典方法 | 第20-22页 |
| ·集成电路测试的新方法 | 第22-29页 |
| 第3章 PIC12F509 全速电流测试实验研究 | 第29-47页 |
| ·PIC12F509 微处理器介绍 | 第29-33页 |
| ·测试指令序列的产生 | 第33-37页 |
| ·实验过程及其介绍 | 第37-40页 |
| ·实验结果及其分析 | 第40-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于海明距离的随机自反馈测试研究 | 第47-53页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·基于海明距离的随机自反馈测试 | 第47-50页 |
| ·实验结果及其分析 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 附录B 实验数据表 | 第60-65页 |