电导调制器件局域寿命控制技术
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
第一章 绪论 | 第12-22页 |
·寿命控制技术 | 第12-15页 |
·局域寿命控制技术 | 第15-19页 |
·多区局域寿命控制和寿命工程技术 | 第19-20页 |
·本论文的主要工作 | 第20-22页 |
第二章 低能量He~+离子注入局域寿命控制技术 | 第22-47页 |
·He~+离子注入寿命控制的机理 | 第22-27页 |
·He~+注入引入缺陷对少数载流子寿命影响模型 | 第27-30页 |
·He~+注入引入缺陷对载流子迁移率的影响 | 第30-31页 |
·He~+注入局域寿命控制SOI-LIGBT | 第31-42页 |
·结附近局域寿命控制分析 | 第42-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第三章 局域寿命控制电导调制功率器件稳态模型 | 第47-73页 |
·电导调制型器件的基本方程 | 第47-51页 |
·局域寿命控制下非平衡载流子分布的一般解 | 第51-54页 |
·局域寿命控制PIN器件模型 | 第54-61页 |
·局域寿命控制PNP器件模型 | 第61-63页 |
·局域寿命控制IGBT器件模型 | 第63-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
第四章 局域寿命控制IGBT瞬态模型 | 第73-88页 |
·快速下降阶段 | 第73-82页 |
·第二下降阶段 | 第82-87页 |
·本章小结 | 第87-88页 |
第五章 多区局域寿命控制和任意分布寿命控制 | 第88-100页 |
·多局域寿命控制分区解 | 第88-90页 |
·任意寿命分布下的WKB解 | 第90-97页 |
·任意寿命分布下的摄动解 | 第97-99页 |
·本章小结 | 第99-100页 |
第六章 局域寿命控制对器件其他参数的影响 | 第100-115页 |
·局域寿命控制对器件耐压的影响 | 第100-103页 |
·局域寿命控制对器件安全工作区的影响 | 第103-114页 |
·本章小结 | 第114-115页 |
总结 | 第115-117页 |
致谢 | 第117-118页 |
参考文献 | 第118-124页 |
作者近期发表的相关学术论文和主要科研成果 | 第124-126页 |