| 第一章 可测试性技术概述 | 第1-16页 |
| §1．1 测试的困境 | 第6-8页 |
| §1．2 芯片自上而下设计流程 | 第8-10页 |
| §1．3 可测试性技术的产生 | 第10-12页 |
| §1．4 可测试性设计的准则 | 第12页 |
| §1．5 可测试性的关键技术 | 第12-13页 |
| 1．5．1 可测试性度量 | 第12页 |
| 1．5．2 可测试性机制的设计与优化 | 第12页 |
| 1．5．3 测试信息的处理与故障诊断 | 第12-13页 |
| §1．6 测试经济学 | 第13-14页 |
| §1．7 支持可测试性设计的产品 | 第14-15页 |
| §1．8 论文结构 | 第15-16页 |
| 第二章 可测试性设计技术 | 第16-42页 |
| §2．1 一些提高可测试性的简单方法 | 第16页 |
| §2．2 常用可测试性设计方法 | 第16-17页 |
| §2．3 Ad Hoc技术 | 第17页 |
| §2．4 基于扫描设计的结构化设计 | 第17-31页 |
| 2．4．1 故障模型 | 第18-20页 |
| 2．4．2 SSAF故障模型与逻辑故障 | 第20-21页 |
| 2．4．3 SSAF检测的基本原理 | 第21-23页 |
| 2．4．4 故障坍缩 | 第23-24页 |
| 2．4．5 基于扫描的可测试性设计 | 第24-26页 |
| 2．4．6 基于扫描方式的可测试性设计的优化 | 第26-28页 |
| 2．4．7 DFT Compiler实现内部扫描设计 | 第28-31页 |
| 2．4．7．1 Test-Ready和约束——优化扫描插入 | 第28-29页 |
| 2．4．7．2 自顶向下和自下向上的扫描插入 | 第29-30页 |
| 2．4．7．3 与后端工具接口 | 第30-31页 |
| §2．5 基于BIST的可测试性设计 | 第31-35页 |
| 2．5．1 测试向量发生器 | 第33页 |
| 2．5．2 测试响应分析 | 第33-34页 |
| 2．5．3 存储器BIST | 第34-35页 |
| §2．6 基于边界扫描机制的标准化设计 | 第35-42页 |
| 2．6．1 JTAG的逻辑结构 | 第36-40页 |
| 2．6．1．1 指令寄存器 | 第37-38页 |
| 2．6．1．2 测试端口 | 第38页 |
| 2．6．1．3 控制信号 | 第38页 |
| 2．6．1．4 TAP控制器的有限状态机 | 第38-39页 |
| 2．6．1．5 旁路寄存器和身份识别寄存器 | 第39页 |
| 2．6．1．6 边界扫描寄存器 | 第39-40页 |
| 2．6．2 边界扫描技术的应用 | 第40-42页 |
| 第三章 超深亚微米技术对可测试性设计的挑战 | 第42-46页 |
| §3．1 测试和可测试性设计面临的挑战 | 第42页 |
| §3．2 系统级芯片(SOC)的测试和可测试性设计 | 第42-43页 |
| §3．3 可测试性技术的发展趋势 | 第43-46页 |
| 3．3．1 新的可测试性设计思想 | 第44页 |
| 3．3．2 新的可测试性机制体系结构 | 第44页 |
| 3．3．3 新的测试信息处理技术与故障诊断方法的应用 | 第44-45页 |
| 3．3．4 新的应用领域 | 第45-46页 |
| 第四章 可测试性设计的应用 | 第46-51页 |
| §4．1 OR1200芯片简介 | 第46页 |
| §4．2 OR1200芯片可测试性设计的实现 | 第46-49页 |
| 4．2．1 测试时钟管脚可控设计 | 第47页 |
| 4．2．2 功能逻辑全扫描设计 | 第47-48页 |
| 4．2．3 内建自测试设计 | 第48页 |
| 4．2．4 边界扫描设计 | 第48-49页 |
| §4．3 基于可测试性设计的测试方案 | 第49-50页 |
| 4．3．1 扫描链移位测试 | 第49页 |
| 4．3．2 固定型故障的测试 | 第49页 |
| 4．3．3 BIST | 第49页 |
| 4．3．4 JTAG功能测试 | 第49-50页 |
| 4．3．5 可测试性设计结果 | 第50页 |
| §4．4 小结 | 第50-51页 |
| 第五章 基于芯核的SOC测试调度 | 第51-58页 |
| §5．1 引言 | 第51-52页 |
| §5．2 SOC测试调度研究情况 | 第52页 |
| §5．3 基于神经网络的SOC测试调度 | 第52-55页 |
| 5．3．1 SOC测试调度约束的数学模型 | 第52-53页 |
| 5．3．2 SOC测试调度用神经网络 | 第53-55页 |
| 5．3．3 复杂度分析 | 第55页 |
| §5．4 SOC测试系统的搜索和优化 | 第55页 |
| §5．5 计算机模拟 | 第55-57页 |
| §5．6 小结 | 第57-58页 |
| 第六章 结束语 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 作者攻读硕士学位期间发表的论文 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
