非制冷红外焦平面图像处理系统的研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·红外热成像技术发展概况 | 第8页 |
| ·非制冷红外热成像技术发展优势与应用前景 | 第8-9页 |
| ·国内外非制冷热成像技术发展现状 | 第9-11页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第2章 红外图像处理算法分析 | 第12-21页 |
| ·红外成像特点分析 | 第12-13页 |
| ·非均匀校正算法 | 第13-17页 |
| ·两点定标非均匀校正算法 | 第13-16页 |
| ·时域高通滤波校正算法 | 第16-17页 |
| ·盲点替换算法 | 第17-18页 |
| ·图像增强算法 | 第18-19页 |
| ·线性变换 | 第18-19页 |
| ·灰度直方图变换 | 第19页 |
| ·图像放缩算法 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 非制冷红外图像处理系统方案设计 | 第21-42页 |
| ·系统功能要求及技术指标 | 第21-22页 |
| ·微测辐射热探测器特性分析 | 第22-29页 |
| ·微测辐射热探测器指标分析 | 第23-26页 |
| ·UL03191 型微测辐射计阵列 | 第26-29页 |
| ·红外图像处理系统硬件系统方案设计 | 第29-39页 |
| ·探测器模块方案 | 第31-33页 |
| ·FPGA 模块方案 | 第33-39页 |
| ·电源模块的硬件方案 | 第39页 |
| ·接口模块的硬件方案 | 第39页 |
| ·红外图像处理系统软件系统方案设计 | 第39-41页 |
| ·器件配置方案设计 | 第40页 |
| ·逻辑控制方案设计 | 第40页 |
| ·图像处理方案设计 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 非制冷红外图像处理系统硬件设计 | 第42-58页 |
| ·探测器硬件电路设计 | 第42-48页 |
| ·焦平面外围电路设计 | 第42-44页 |
| ·温控电路的设计 | 第44-47页 |
| ·A/D 电路的设计 | 第47-48页 |
| ·FPGA 硬件电路设计 | 第48-54页 |
| ·ALTERA 的FPGA 配置电路设计 | 第49-50页 |
| ·系统时钟电路设计 | 第50-51页 |
| ·SRAM 电路设计 | 第51页 |
| ·PAL 电路设计 | 第51-53页 |
| ·LVDS 电路设计 | 第53-54页 |
| ·供电模块硬件电路设计 | 第54-55页 |
| ·接口硬件电路设计 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 非制冷红外图像处理系统软件设计 | 第58-72页 |
| ·器件配置程序设计方案 | 第58-63页 |
| ·焦平面的配置信号 | 第58-61页 |
| ·PAL 芯片的配置信号 | 第61-63页 |
| ·逻辑控制程序方案 | 第63-67页 |
| ·A/D 逻辑控制 | 第63页 |
| ·SRAM 逻辑控制 | 第63-64页 |
| ·LVDS 芯片的发送逻辑 | 第64-65页 |
| ·键盘输入命令逻辑 | 第65-66页 |
| ·上位机485 指令逻辑 | 第66-67页 |
| ·图像处理设计方案 | 第67-71页 |
| ·非均匀校正设计 | 第67-68页 |
| ·盲元替换设计 | 第68页 |
| ·图像对比度与亮度设计 | 第68-70页 |
| ·图像放缩设计 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第6章 系统调试与测试 | 第72-77页 |
| ·硬件调试 | 第72-75页 |
| ·FPGA 及其外围电路调试 | 第73页 |
| ·外部SRAM 调试 | 第73页 |
| ·PAL 调试 | 第73页 |
| ·LVDS 调试 | 第73-74页 |
| ·焦面及其外围的调试 | 第74-75页 |
| ·软件调试 | 第75-76页 |
| ·MCU 与FPGA 通讯的测试 | 第75页 |
| ·MCU 与外部控制的测试 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 附录1 | 第82-88页 |
| 附录2 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
