| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第18-30页 |
| 1.1 粒子物理学引导 | 第18页 |
| 1.2 标准模型简介 | 第18-21页 |
| 1.3 粲物理简介 | 第21-25页 |
| 1.3.1 J/Ψ粒子和粲夸克的发现 | 第21-22页 |
| 1.3.2 D介子的发现 | 第22页 |
| 1.3.3 D介子物理简介 | 第22-25页 |
| 1.4 1 GeV/c~2质量以下的轻标量介子 | 第25-27页 |
| 1.5 论文结构 | 第27-28页 |
| 1.6 本章小结 | 第28-30页 |
| 第二章 实验设备 | 第30-44页 |
| 2.1 BEPCⅡ简介 | 第30-33页 |
| 2.2 BESⅢ探测器简介 | 第33-39页 |
| 2.2.1 束流管 | 第34-35页 |
| 2.2.2 多层结构漂移室(MDC) | 第35-36页 |
| 2.2.3 飞行时间计数器(TOF) | 第36页 |
| 2.2.4 电磁量能器(EMC) | 第36-37页 |
| 2.2.5 超导磁体(SMG) | 第37页 |
| 2.2.6 μ子鉴别器(MUC) | 第37页 |
| 2.2.7 触发判选系统(Trigger System) | 第37-38页 |
| 2.2.8 在线数据获取系统(DAQ) | 第38-39页 |
| 2.3 BESⅢ离线软件系统 | 第39-42页 |
| 2.3.1 BESⅡ离线软件系统框架 | 第39-40页 |
| 2.3.2 BESⅢ离线重建软件和探测器刻度系统 | 第40-41页 |
| 2.3.3 BESⅢ探测器模拟系统 | 第41-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 D介子标记方法及常用标记模式研究 | 第44-60页 |
| 3.1 D介子标记方法简介 | 第44-46页 |
| 3.2 BESⅢ中D介子标记实现的软件系统简介 | 第46-47页 |
| 3.2.1 通用软件工具BesDChain | 第46-47页 |
| 3.2.2 D介子标记工具DTagAlg | 第47页 |
| 3.3 单标记D介子挑选 | 第47-57页 |
| 3.3.1 数据样本 | 第48-49页 |
| 3.3.2 带电粒子选择 | 第49页 |
| 3.3.3 中性粒子选择 | 第49-50页 |
| 3.3.4 单标记D介子选择 | 第50-54页 |
| 3.3.5 单标记效率 | 第54-55页 |
| 3.3.6 单标记事例产额的数据结果 | 第55-57页 |
| 3.4 本章小结 | 第57-60页 |
| 第四章 D介子半轻衰变到a_0(980)的绝对分支比测量 | 第60-94页 |
| 4.1 选题动机 | 第60-62页 |
| 4.2 事例选择 | 第62-64页 |
| 4.2.1 末态辐射光子修正 | 第63页 |
| 4.2.2 D~0→a_0(980)~-e+v_e衰变候选者选择 | 第63页 |
| 4.2.3 D~+→a_0(980)~0e+v_e衰变候选者选择 | 第63-64页 |
| 4.3 本底分析 | 第64-72页 |
| 4.3.1 进阶的电子鉴别 | 第65-66页 |
| 4.3.2 D~0→a_0(980)~-e+v_e本底分析 | 第66-69页 |
| 4.3.3 D~+→a_0(980)~0e+v_e本底分析 | 第69-72页 |
| 4.4 信号效率 | 第72-74页 |
| 4.5 测量结果 | 第74-79页 |
| 4.5.1 半轻子衰变D~0→a_0(980)~-e+v_e分支比 | 第76-77页 |
| 4.5.2 半轻子衰变D~+→a_0(980)~0e+v_e分支比和90%置信度下的上限 | 第77-79页 |
| 4.6 一致性检查 | 第79-82页 |
| 4.6.1 电荷共轭检查 | 第79-80页 |
| 4.6.2 输入输出检查 | 第80-82页 |
| 4.7 系统误差分析 | 第82-92页 |
| 4.7.1 带电径迹寻迹效率误差 | 第83页 |
| 4.7.2 粒子鉴别效率误差 | 第83页 |
| 4.7.3 FSR修正效率误差 | 第83-84页 |
| 4.7.4 η和π~0的重建效率误差 | 第84页 |
| 4.7.5 最优ηπ~0组合选择的误差 | 第84-85页 |
| 4.7.6 EMC簇射形状(LAT)条件的效率误差 | 第85页 |
| 4.7.7 半轻子衰变过程形状因子误差 | 第85页 |
| 4.7.8 η和π~0衰变分支比误差 | 第85-88页 |
| 4.7.9 MC样本统计量误差 | 第88页 |
| 4.7.10 U分辨率的误差 | 第88-90页 |
| 4.7.11 a_0(980)拟合模型误差 | 第90页 |
| 4.7.12 本底过程的拟合模型误差 | 第90页 |
| 4.7.13 系统误差总结 | 第90-92页 |
| 4.8 本章小结 | 第92-94页 |
| 第五章 D~0辐射衰变分支比测量 | 第94-108页 |
| 5.1 选题动机 | 第94-95页 |
| 5.2 事例选择和信号效率 | 第95-100页 |
| 5.2.1 D~0→γK~(*0)衰变候选者选择 | 第96-98页 |
| 5.2.2 D~0→γΦ衰变候选者选择 | 第98-99页 |
| 5.2.3 信号效率 | 第99-100页 |
| 5.3 测量结果 | 第100-102页 |
| 5.3.1 辐射衰变D~0→ γK~(*0)分支比 | 第100-101页 |
| 5.3.2 辐射衰变D~0→γΦ分支比 | 第101-102页 |
| 5.4 输入输出检查 | 第102-104页 |
| 5.5 初步的系统误差 | 第104-107页 |
| 5.6 本章小结 | 第107-108页 |
| 第六章 总结和展望 | 第108-112页 |
| 参考文献 | 第112-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
