抗几何形变的图像完整性认证方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题研究背景 | 第8-9页 |
| ·抗几何形变的图像完整性认证方法的研究现状 | 第9-12页 |
| ·图像签名方法的研究现状 | 第9-10页 |
| ·抗几何形变图像签名方法的研究现状 | 第10-11页 |
| ·零水印技术的研究现状 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12页 |
| ·本文的章节安排 | 第12-14页 |
| 2 基础知识 | 第14-21页 |
| ·Radon变换 | 第14-17页 |
| ·Radon变换的几何特性 | 第14-15页 |
| ·Radon变换的半脆弱性 | 第15-17页 |
| ·DCT变换 | 第17-18页 |
| ·DCT变换的性质 | 第17页 |
| ·DCT变换在图像处理中的应用 | 第17-18页 |
| ·小波变换 | 第18-21页 |
| ·小波变换的定义 | 第18-19页 |
| ·小波变换在图像处理中的应用 | 第19-21页 |
| 3 一种具有几何形变鲁棒性的图像签名方案 | 第21-32页 |
| ·引言 | 第21页 |
| ·一种具有几何形变鲁棒性的图像签名方案 | 第21-31页 |
| ·方案框架描述 | 第21-22页 |
| ·方案具体描述 | 第22-28页 |
| ·认证过程 | 第28-30页 |
| ·实验结果 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 4 一种基于Radon变换的零水印方案 | 第32-45页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·DCT变换域内的零水印技术 | 第32-34页 |
| ·水印嵌入过程 | 第32-33页 |
| ·水印检测过程 | 第33页 |
| ·对该方案的分析 | 第33-34页 |
| ·一种基于Radon变换的零水印方案 | 第34-43页 |
| ·水印嵌入过程 | 第35-36页 |
| ·水印检测过程 | 第36页 |
| ·仿真实验 | 第36-43页 |
| ·水印方案性能分析 | 第43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 5 总结与展望 | 第45-47页 |
| ·总结 | 第45-46页 |
| ·进一步研究与展望 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 附录 | 第52页 |
