| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 温度传感器的研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 温度传感器的发展与现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 传统分立式温度传感器 | 第10-11页 |
| 1.2.2 集成温度传感器 | 第11-12页 |
| 1.2.3 温度传感器国内外发展现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文主要内容与组织结构 | 第13-15页 |
| 第二章 带隙基准电路 | 第15-25页 |
| 2.1 双极型晶体管温度特性 | 第15-19页 |
| 2.1.1 负温度系数电压 | 第15-17页 |
| 2.1.2 正温度系数电压 | 第17-18页 |
| 2.1.3 基准电压 | 第18-19页 |
| 2.2 影响V_(BE)特性的非理想因素 | 第19-20页 |
| 2.3 非线性高阶曲率补偿技术 | 第20-22页 |
| 2.4 带隙基准电路技术指标 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 逐次逼近型SAR ADC | 第25-37页 |
| 3.1 模数转换器的结构 | 第25-29页 |
| 3.1.1 并行(Flash)ADC | 第26-27页 |
| 3.1.2 流水线(Pipeline)ADC | 第27页 |
| 3.1.3 ∑-△(Sigma-Delta)ADC | 第27-28页 |
| 3.1.4 逐次逼近型SAR ADC | 第28-29页 |
| 3.2 SAR ADC的分类 | 第29-34页 |
| 3.2.1 电压定标型 | 第29-30页 |
| 3.2.2 电流定标型 | 第30-31页 |
| 3.2.3 电荷定标型 | 第31-34页 |
| 3.3 开关技术 | 第34-36页 |
| 3.3.1 基本MOS开关 | 第34-35页 |
| 3.3.2 CMOS传输门开关 | 第35-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 CMOS温度传感器的设计与仿真 | 第37-63页 |
| 4.1 温度传感器工作原理与技术指标 | 第37-39页 |
| 4.1.1 温度传感器工作原理 | 第37-38页 |
| 4.1.2 温度传感器技术指标 | 第38-39页 |
| 4.2 带隙基准电路的设计与仿真 | 第39-51页 |
| 4.2.1 偏置电路 | 第39-41页 |
| 4.2.2 启动电路 | 第41页 |
| 4.2.3 电源抑制比增强电路 | 第41-43页 |
| 4.2.4 基准核心电路 | 第43-45页 |
| 4.2.5 仿真结果分析 | 第45-51页 |
| 4.3 SAR ADC的设计与仿真 | 第51-60页 |
| 4.3.1 DAC电路 | 第51-53页 |
| 4.3.2 动态比较器 | 第53-57页 |
| 4.3.3 数字逻辑控制电路 | 第57-59页 |
| 4.3.4 仿真结果分析 | 第59-60页 |
| 4.4 温度传感器仿真结果与分析 | 第60-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 版图设计与仿真 | 第63-69页 |
| 5.1 版图设计规则与验证方法 | 第63-64页 |
| 5.1.1 版图设计规则 | 第63-64页 |
| 5.1.2 版图验证方法 | 第64页 |
| 5.2 版图实现与后仿 | 第64-67页 |
| 5.2.1 运放版图设计 | 第65-66页 |
| 5.2.2 带隙基准版图设计 | 第66页 |
| 5.2.3 温度传感器版图设计 | 第66-67页 |
| 5.3 本章小结 | 第67-69页 |
| 第六章 论文总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 论文总结 | 第69页 |
| 6.2 展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |