摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 铁电存储器的辐射效应测试方法研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第11-13页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
1.3 主要贡献与创新 | 第14页 |
1.4 本文的结构安排 | 第14-16页 |
第二章 铁电存储器地面模拟辐射试验测试方法 | 第16-27页 |
2.1 铁电存储器构造及工作原理 | 第16-20页 |
2.1.1 存储原理 | 第16-18页 |
2.1.2 读写时序 | 第18-19页 |
2.1.3 存储器架构 | 第19-20页 |
2.2 集成电路辐射机理 | 第20-22页 |
2.2.1 单粒子效应机理 | 第20-21页 |
2.2.2 集成电路总剂量机理 | 第21-22页 |
2.3 铁电存储器辐射效应 | 第22-24页 |
2.3.1 铁电存储器单粒子效应 | 第22-23页 |
2.3.2 铁电存储器总剂量效应 | 第23-24页 |
2.4 地面模拟试验环境与测试方法 | 第24-26页 |
2.4.1 单粒子效应地面模拟辐射试验方法 | 第24-25页 |
2.4.2 总剂量效应地面模拟辐射试验方法 | 第25-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 基于MarchC-的铁电存储器测试方法研究 | 第27-40页 |
3.1 存储器故障模型 | 第27-30页 |
3.1.1 粘着故障 | 第28-29页 |
3.1.2 跳变故障 | 第29-30页 |
3.1.3 耦合故障 | 第30页 |
3.2 铁电存储器新型故障类型 | 第30-38页 |
3.2.1 1T1C结构阵列电气缺陷模型 | 第30-31页 |
3.2.2 1T1C结构阵列故障仿真分析 | 第31-36页 |
3.2.3 1T1C结构阵列WDF故障dWDF故障总结 | 第36-38页 |
3.3 铁电存储器MarchC-算法的改进 | 第38-39页 |
3.3.1 MarchC-算法 | 第38-39页 |
3.3.2 MarchC-算法的改进 | 第39页 |
3.4 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 铁电存储器的单粒子效应测试方法研究 | 第40-52页 |
4.1 单粒子效应辐射试验要求和器件简介 | 第40页 |
4.1.1 单粒子效应测试方法要求 | 第40页 |
4.1.2 被测器件描述 | 第40页 |
4.2 重离子加速器单粒子效应试验测试方法 | 第40-44页 |
4.2.1 重离子加速器辐射环境 | 第41-42页 |
4.2.2 测试系统的搭建 | 第42-43页 |
4.2.3 重离子加速器辐射试验流程 | 第43-44页 |
4.3 重离子加速器单粒子效应MarchC-测试结果分析 | 第44-51页 |
4.3.1 逻辑位图和时间位图的设计 | 第44-46页 |
4.3.2 重离子加速器测试结果 | 第46-47页 |
4.3.3 March1T1C测试结果 | 第47-48页 |
4.3.4 铁电存储器单粒子效应故障类型分析 | 第48-51页 |
4.4 本章小结 | 第51-52页 |
第五章 铁电存储器的总剂量效应测试方法研究 | 第52-64页 |
5.1 总剂量效应辐射试验要求和器件简介 | 第52-53页 |
5.1.1 总剂量效应测试方法要求 | 第52页 |
5.1.2 被测器件描述 | 第52-53页 |
5.2 不同辐射源总剂量效应辐射试验测试方法 | 第53-57页 |
5.2.1 Co-60γ辐射源 | 第53-55页 |
5.2.2 电子加速器 | 第55页 |
5.2.3 X射线微束 | 第55-57页 |
5.3 不同辐射源总剂量效应辐射试验测试结果分析 | 第57-59页 |
5.3.1 Co-60γ辐射源试验结果 | 第57-59页 |
5.3.2 电子加速器试验结果 | 第59页 |
5.3.3 X射线微束试验结果 | 第59页 |
5.4 铁电存储器总剂量效应测试方法讨论 | 第59-63页 |
5.4.1 铁电存储器总剂量效应分析 | 第59-61页 |
5.4.2 电子加速器辐射和X射线微束辐射分析 | 第61-63页 |
5.5 本章小结 | 第63-64页 |
第六章 全文总结与展望 | 第64-66页 |
6.1 全文总结 | 第64页 |
6.2 后续工作展望 | 第64-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-72页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第72页 |