| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 第1章 引言 | 第8-11页 |
| 1.0 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.1 流水线ADC校准算法研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2 论文工作及组织架构 | 第10-11页 |
| 第2章 模数转换器概论 | 第11-37页 |
| 2.1 ADC的基本原理 | 第11页 |
| 2.2 ADC的主要技术指标 | 第11-15页 |
| 2.2.1 静态性能指标 | 第12-13页 |
| 2.2.2 动态性能指标 | 第13-15页 |
| 2.3 主要ADC架构类型 | 第15-20页 |
| 2.3.1 闪烁式ADC | 第15-16页 |
| 2.3.2 逐次逼近式ADC | 第16-18页 |
| 2.3.3 流水线ADC | 第18-20页 |
| 2.3.4 ADC性能比较 | 第20页 |
| 2.4 流水线ADC误差来源[27-30] | 第20-27页 |
| 2.4.1 比较器失调电压 | 第21页 |
| 2.4.2 运放相关误差 | 第21-24页 |
| 2.4.3 电容失配[28-29] | 第24-25页 |
| 2.4.4 开关导通电阻[27] | 第25-26页 |
| 2.4.5 热噪声[29-30] | 第26页 |
| 2.4.6 采样时钟抖动（Clock Jitter） | 第26-27页 |
| 2.5 传统的校准技术 | 第27-36页 |
| 2.5.1 模拟校准技术(Analog Correction) | 第28-30页 |
| 2.5.2 数字自校准技术（Self-calibration technique） | 第30-31页 |
| 2.5.3 后台校准技术(Background calibration technique) | 第31-36页 |
| 2.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 双模式切换码分布校准算法原理 | 第37-52页 |
| 3.1 校准概述 | 第37-41页 |
| 3.2 误差分析 | 第41-43页 |
| 3.3 基于双模式切换的码分布校准原理 | 第43-46页 |
| 3.4 双模式中码分布统计窗口的建立 | 第46-49页 |
| 3.5 双模式切换码分布校准过程 | 第49-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-52页 |
| 第4章 双模式切换码分布校准技术的实现 | 第52-72页 |
| 4.1 原流水线ADC介绍 | 第52-53页 |
| 4.1.1 原流水线ADC设计方案 | 第52页 |
| 4.1.2 原流水线ADC前台校准 | 第52-53页 |
| 4.2 双模式切换的电路实现 | 第53-61页 |
| 4.2.1 双模式切换MDAC电路的实现 | 第53-54页 |
| 4.2.2 双模式切换子ADC阈值选择电路修改 | 第54-55页 |
| 4.2.3 模式控制信号产生电路 | 第55-57页 |
| 4.2.4 双模式切换输出电路 | 第57页 |
| 4.2.5 第一级电路运放的设计 | 第57-61页 |
| 4.3 双模式切换码分布校准技术的RTL实现 | 第61-62页 |
| 4.4 流水线ADC电路插值模型的原理与验证 | 第62-65页 |
| 4.4.1 插值模型的原理 | 第62-64页 |
| 4.4.2 插值模型的验证 | 第64-65页 |
| 4.5 双模式切换码分布校准算法仿真验证 | 第65-70页 |
| 4.5.1 正弦输入情况下校准算法验证 | 第66-68页 |
| 4.5.2 其它输入情况下校准算法验证 | 第68-69页 |
| 4.5.3 特殊输入情况下校准算法验证 | 第69-70页 |
| 4.6 逻辑综合 | 第70-72页 |
| 第5章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 5.1 论文结论 | 第72-73页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第79页 |
