摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第11-27页 |
1.1 引言 | 第11-12页 |
1.2 锂离子电池工作原理 | 第12-13页 |
1.3 正极材料 | 第13-14页 |
1.4 电解质 | 第14-15页 |
1.5 隔膜 | 第15页 |
1.6 负极材料 | 第15-24页 |
1.6.1 碳负极材料 | 第16-17页 |
1.6.2 锡基负极材料 | 第17-18页 |
1.6.3 硅基负极材料 | 第18-24页 |
1.7 电极材料的失效机制 | 第24-26页 |
1.8 本文研究的意义和主要内容 | 第26-27页 |
1.8.1 研究意义 | 第26页 |
1.8.2 研究内容 | 第26-27页 |
第二章 实验方法与电极应力应变的数值模型 | 第27-37页 |
2.1 引言 | 第27页 |
2.2 薄膜制备方法与实验设备 | 第27-32页 |
2.2.1 磁控溅射法镀膜 | 第27-28页 |
2.2.2 Mantis磁控溅射系统 | 第28-30页 |
2.2.3 膜层厚度的测定方法 | 第30-32页 |
2.3 薄膜结构与性能分析 | 第32-33页 |
2.3.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第32页 |
2.3.2 扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第32页 |
2.3.3 电化学性能测试 | 第32-33页 |
2.4 薄膜负极失效机制的ANSYS模型分析 | 第33-37页 |
2.3.1 模型分析 | 第33-35页 |
2.3.2 有限元法及ANSYS软件简介 | 第35-37页 |
第三章 硅薄膜负极的结构和电化学性能 | 第37-49页 |
3.1 引言 | 第37页 |
3.2 试验方法 | 第37-38页 |
3.3 硅薄膜的结构特征 | 第38-39页 |
3.4 硅薄膜负极的电化学性能 | 第39-48页 |
3.4.1 溅射功率对硅薄膜负极的影响 | 第40-43页 |
3.4.2 热处理对硅薄膜的影响 | 第43-48页 |
3.5 本章小结 | 第48-49页 |
第四章 Si-Ti双层薄膜负极的电化学性能 | 第49-60页 |
4.1 引言 | 第49-50页 |
4.2 Si-Ti双层薄膜负极的电化学性能 | 第50-52页 |
4.3 不同Ti层厚度对Si-Ti双层薄膜负极的电化学性能的影响 | 第52-56页 |
4.3.1 以铜粗糙面为基体 | 第52-55页 |
4.3.2 以铜箔光滑面为基体 | 第55-56页 |
4.4 热处理对Si-Ti双层薄膜负极的电化学性能 | 第56-58页 |
4.5 本章小结 | 第58-60页 |
第五章 Si-Ti双层薄膜负极应力应变的有限元模拟 | 第60-68页 |
5.1 引言 | 第60页 |
5.2 嵌锂过程 | 第60-64页 |
5.3 脱锂过程 | 第64-66页 |
5.4 本章小结 | 第66-68页 |
全文总结和工作展望 | 第68-71页 |
1 全文总结 | 第68-69页 |
2 工作展望 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-80页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
附件 | 第82页 |