| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第9-10页 |
| 缩略语对照表 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 信道编码概述 | 第13-14页 |
| 1.2 信道编码识别的应用 | 第14-15页 |
| 1.3 研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3.1 常规卷积码盲识别研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3.2 删除卷积码盲识别研究现状 | 第16页 |
| 1.4 本文的主要工作和结构安排 | 第16-19页 |
| 第二章 卷积码基础及其盲识别算法 | 第19-33页 |
| 2.1 线性分组码与卷积码 | 第19-26页 |
| 2.1.1 线性分组码理论 | 第19-21页 |
| 2.1.2 卷积码理论 | 第21-25页 |
| 2.1.3 删除卷积码理论 | 第25-26页 |
| 2.2 常规卷积码盲识别 | 第26-30页 |
| 2.2.1 高斯直接法 | 第26-28页 |
| 2.2.2 基于BM的快速合冲算法 | 第28-29页 |
| 2.2.3 欧几里得识别法 | 第29-30页 |
| 2.2.4 基于求解校验序列的识别算法 | 第30页 |
| 2.3 删除卷积码盲识别 | 第30-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 任意码率高误码卷积码盲识别算法 | 第33-53页 |
| 3.1 求解非相关列的卷积码码长识别 | 第33-36页 |
| 3.1.1 码长识别模型 | 第33-35页 |
| 3.1.2 码长盲识别流程 | 第35-36页 |
| 3.2 基于统计原理的卷积码信息位长度和校验序列识别 | 第36-41页 |
| 3.2.1 信息位长度的识别 | 第36-38页 |
| 3.2.2 校验序列识别模型 | 第38-39页 |
| 3.2.3 校验序列识别步骤 | 第39-40页 |
| 3.2.4 信息位长度和校验序列识别流程图 | 第40-41页 |
| 3.3 生成矩阵的盲识别 | 第41-48页 |
| 3.3.1 生成矩阵识别模型 | 第41-42页 |
| 3.3.2 生成矩阵识别步骤 | 第42-44页 |
| 3.3.3 生成矩阵识别流程图 | 第44-45页 |
| 3.3.4 非系统卷积码生成矩阵集合简化 | 第45-48页 |
| 3.4 删除卷积码盲识别 | 第48-51页 |
| 3.4.1 删除卷积码识别模型 | 第48-50页 |
| 3.4.2 删除卷积码识别步骤 | 第50-51页 |
| 3.4.3 删除卷积码识别流程图 | 第51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 算法的仿真分析 | 第53-67页 |
| 4.1 算法的总流程图 | 第53-54页 |
| 4.2 常规卷积码盲识别仿真 | 第54-59页 |
| 4.2.1 码长盲识别仿真 | 第54-56页 |
| 4.2.2 卷积码信息位长度和校验序列识别仿真 | 第56页 |
| 4.2.3 生成矩阵识别仿真 | 第56-58页 |
| 4.2.4 常规卷积码盲识别系统仿真 | 第58-59页 |
| 4.3 删除卷积码盲识别仿真 | 第59-63页 |
| 4.3.1 码长、信息位长度、生成矩阵盲识别仿真 | 第59-60页 |
| 4.3.2 母码和删除模式盲识别仿真 | 第60-61页 |
| 4.3.3 迭代算法与传统遍历删除模式算法速率对比 | 第61-62页 |
| 4.3.4 删除卷积码盲识别系统仿真 | 第62-63页 |
| 4.4 实验平台测试结果 | 第63-66页 |
| 4.5 本章总结 | 第66-67页 |
| 第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 5.1 论文总结 | 第67-68页 |
| 5.2 研究展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 作者简介 | 第74-75页 |