| 符号表 | 第1-9页 |
| 中文摘要 | 第9-11页 |
| Abstract | 第11-13页 |
| 第一章 引言 | 第13-19页 |
| §1.1 宇宙线实验 | 第13-15页 |
| §1.2 LHAASO实验 | 第15-17页 |
| §1.3 本文结构 | 第17-19页 |
| 第二章 电子探测器 | 第19-25页 |
| §2.1 闪烁体探测器结构和工作原理 | 第19-20页 |
| §2.2 光电倍增管 | 第20-25页 |
| §2.2.1 光电倍增管系统的基本原理 | 第20-21页 |
| §2.2.2 光电倍增管的主要参数特性 | 第21-25页 |
| 第三章 测试系统的实现 | 第25-39页 |
| §3.1 硬件设备 | 第25-28页 |
| §3.2 测试平台的搭建 | 第28-31页 |
| §3.3 控制软件开发 | 第31-36页 |
| §3.4 测试软件开发 | 第36-39页 |
| 第四章 数据获取和分析 | 第39-48页 |
| §4.1 数据获取 | 第39-41页 |
| §4.1.1 数据流过程 | 第39-40页 |
| §4.1.2 时序图 | 第40-41页 |
| §4.1.3 数据获取程序逻辑 | 第41页 |
| §4.2 数据处理 | 第41-48页 |
| §4.2.1 数据在QDC OUTPUT BUFFER中存储格式 | 第42-43页 |
| §4.2.2 数据获取程序获取数据的格式 | 第43-44页 |
| §4.2.3 数据的提取 | 第44-45页 |
| §4.2.4 数制转换 | 第45-46页 |
| §4.2.5 数据分析拟合 | 第46-48页 |
| 第五章 XP2262、XP2012和R11102的测试 | 第48-59页 |
| §5.1 XP2262的双光电子峰的测试 | 第48-50页 |
| §5.2 高压增益曲线测量 | 第50-52页 |
| §5.3 非线性测试 | 第52-54页 |
| §5.4 阴极面均匀性测试 | 第54-56页 |
| §5.5 时间特性测量 | 第56-58页 |
| §5.6 总结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考资料 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第64页 |