蛋壳强度和厚度的近红外光谱检测分析
致谢 | 第1-8页 |
摘要 | 第8-10页 |
Abstract | 第10-12页 |
插图清单 | 第12-13页 |
表格清单 | 第13-14页 |
主要符号列表 | 第14-15页 |
目录 | 第15-18页 |
第一章 绪论 | 第18-32页 |
内容提要 | 第18页 |
·我国禽蛋产业的发展及现状 | 第18-19页 |
·蛋壳 | 第19-22页 |
·检测蛋壳质量的意义 | 第19页 |
·蛋壳结构 | 第19-21页 |
·蛋壳形成 | 第21-22页 |
·蛋壳质量 | 第22页 |
·国内外的研究现状 | 第22-26页 |
·近红外光谱分析技术概述 | 第26-28页 |
·近红外光谱分析技术的发展历程 | 第26-27页 |
·近红外光谱技术的特点 | 第27-28页 |
·蛋壳质量近红外光谱检测的可行性 | 第28-29页 |
·研究内容及意义 | 第29-30页 |
·研究目的及意义 | 第29页 |
·研究内容 | 第29-30页 |
·技术路线 | 第30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
第二章 研究方法和仪器设备 | 第32-46页 |
内容提要 | 第32页 |
·样本来源 | 第32页 |
·实验仪器 | 第32-35页 |
·光谱仪器设备 | 第32-33页 |
·蛋壳强度仪 | 第33-34页 |
·其他实验仪器 | 第34-35页 |
·光谱采集、分析软件介绍 | 第35-38页 |
·光谱采集软件 | 第36页 |
·光谱分析和建模软件 | 第36-37页 |
·MATLAB R2010b数据处理软件 | 第37-38页 |
·实验方法 | 第38-39页 |
·近红外光谱采集 | 第38页 |
·常规物理指标采集 | 第38-39页 |
·数据处理方法 | 第39-42页 |
·异常样本剔除 | 第40-41页 |
·平均 | 第41页 |
·平滑 | 第41页 |
·微分 | 第41页 |
·多元散射校正 | 第41-42页 |
·标准归一化 | 第42页 |
·数据建模方法 | 第42-44页 |
·主成分分析 | 第42页 |
·判别分析 | 第42-43页 |
·支持向量机 | 第43页 |
·主成分回归 | 第43-44页 |
·偏最小二乘回归 | 第44页 |
·本章小结 | 第44-46页 |
第三章 蛋壳超微结构分析 | 第46-52页 |
内容提要 | 第46页 |
·蛋壳超微结构与蛋壳质量的关系研究 | 第46-51页 |
·蛋壳横断面结构 | 第47-49页 |
·蛋壳外表面结构 | 第49-50页 |
·蛋壳内表面结构 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第四章 蛋壳质量的近红外光谱定量分析 | 第52-71页 |
内容提要 | 第52页 |
·理化测定结果及分析 | 第52-53页 |
·蛋壳常规质量指标 | 第52-53页 |
·蛋壳常规质量指标之间的相关性分析 | 第53页 |
·光谱分析 | 第53-54页 |
·近红外光谱采集 | 第53-54页 |
·马氏距离法剔除异常光谱 | 第54页 |
·蛋壳表面结构对近红外光谱的影响 | 第54-56页 |
·蛋壳强度定量分析 | 第56-62页 |
·异常样本剔除 | 第56-57页 |
·模型的建立与优化 | 第57-62页 |
·蛋壳厚度定量分析 | 第62-68页 |
·异常样本剔除 | 第62-63页 |
·模型的建立与优化 | 第63-68页 |
·补偿模型 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-71页 |
第五章 蛋壳质量的近红外光谱定性分析 | 第71-85页 |
内容提要 | 第71页 |
·蛋壳强度定性分析 | 第71-77页 |
·判别分析 | 第71-75页 |
·判别偏最小二乘模型 | 第75-76页 |
·最小二乘支持向量机(LS-SVM) | 第76-77页 |
·蛋壳厚度定性分析 | 第77-82页 |
·判别分析 | 第77-80页 |
·判别偏最小二乘模型 | 第80-82页 |
·最小二乘支持向量机(LS-SVM) | 第82页 |
·多参数补偿模型 | 第82-83页 |
·本章小结 | 第83-85页 |
第六章 结论与展望 | 第85-88页 |
·本文的主要研究结论 | 第85-86页 |
·主要创新点 | 第86-87页 |
·展望 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-92页 |
作者简历 | 第92页 |